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原文传递 温度控制方法、装置、电子设备及存储介质
专利名称: 温度控制方法、装置、电子设备及存储介质
摘要: 本申请实施例提供了一种温度控制方法、装置、电子设备及存储介质,该方法包括:获取当前环境中至少两个温度检测点的温度数据;根据温度数据,确定各个温度检测点的平均温度值,并确定平均温度值与目标温度值之间的温度差,作为第一温度差;确定所述第一温度差是否超过第一温度差阈值范围,若是,对当前环境的温度进行变论域模糊PID控制,若否,对当前环境的温度均匀性进行控制。本申请实施例根据确定出的至少两个温度检测点的温度数据,可对当前环境的温度和温度均匀性进行控制,并提高控制精度。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 北京;11
申请人: 京东方科技集团股份有限公司
发明人: 于越;衣祝松
专利状态: 有效
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN201810716531.9
公开号: CN108790696A
代理机构: 北京市立方律师事务所 11330
代理人: 刘延喜
分类号: B60H1/00(2006.01)I;G05B13/04(2006.01)I;B;G;B60;G05;B60H;G05B;B60H1;G05B13;B60H1/00;G05B13/04
申请人地址: 100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号
主权项: 1.一种温度控制方法,其特征在于,包括:获取当前环境中至少两个温度检测点的温度数据;根据所述温度数据,确定各个所述温度检测点的平均温度值,并确定所述平均温度值与目标温度值之间的温度差,作为第一温度差;确定所述第一温度差是否超过第一温度差阈值范围,若是,对当前环境的温度进行变论域模糊PID控制,若否,对当前环境的温度均匀性进行控制。
所属类别: 发明专利
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