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OLED面板用外观缺陷检测系统及其检测方法
| 专利名称： | OLED面板用外观缺陷检测系统及其检测方法 |
| 摘要： | 本发明提供了一种OLED用外观缺陷检测单元，包括图像采集机构，图像采集机构的下方依次设有光源反射机构及暗光源出光机构，光源反射机构置于图像采集机构采集端两侧，暗光源出光机构置于光源反射机构的外侧，图像采集机构与光源反射机构之间还设有第二图像采集机构，第二图像采集机构的采集端置有半透半反射机构。本发明可以很方便的检测到产品多个角度的外观，以更好的对产品进行缺陷检测，整个检测单元及系统结构新颖简便，成本低，实用性高。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 江苏;32 |
| 申请人： | 凯吉凯精密电子技术开发(苏州)有限公司 |
| 发明人： | 钱方杰;黄美娟 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810014414.8 |
| 公开号： | CN108020563A |
| 代理机构： | 南京苏科专利代理有限责任公司 32102 |
| 代理人： | 蒋慧妮 |
| 分类号： | G01N21/95(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/95 |
| 申请人地址： | 215000 江苏省苏州市金鸡湖大道1355号国际科技园2A1-A2单元 |
| 主权项： | OLED面板用外观缺陷检测单元的检测系统，其特征在于：包括OLED面板用外观缺陷检测单元，及与所述OLED面板用外观缺陷检测单元通过电性连接的PC，所述PC的第二控制端与待检测OLED面板电性连接，所述OLED面板用外观缺陷检测单元，包括图像采集机构，所述图像采集机构的正下方设置有用于检测的OLED面板样品，所述图像采集机构的下方依次设置有光源反射机构及暗光源出光机构，所述光源反射机构设置于所述图像采集机构采集端两侧，所述暗光源出光机构设置于所述光源反射机构的外侧，所述图像采集机构与所述光源反射机构之间还设置有一第二图像采集机构，所述第二图像采集机构的采集端设置有一半透半反射机构，所述半透半反射机构设置于所述图像采集机构的正下方。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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