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一种工件缺陷高度的检测方法及系统
| 专利名称： | 一种工件缺陷高度的检测方法及系统 |
| 摘要： | 本发明公开一种工件缺陷高度的检测方法及系统，该方法包括：获取待测工件的焊缝的D扫查图像；根据D扫查图像确定待测工件的缺陷及缺陷位置；根据D扫查图像得到缺陷位置处的A扫信号；对A扫信号进行小波去噪处理，得到重构信号；对重构信号进行维纳滤波处理，得到待测工件的缺陷响应信号的估计值；对缺陷响应信号的估计值进行傅里叶逆变换，得到缺陷响应信号的时域信号；根据时域信号，计算缺陷的上端点衍射信号和下端点衍射信号的时间差、缺陷的上端点深度、下端点深度；根据上端点深度、下端点深度、上端点和下端点衍射信号的时间差计算得到缺陷的高度。采用本发明方法或系统能有效减小缺陷自身高度定量误差，提高检出率。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 浙江;33 |
| 申请人： | 中国计量大学 |
| 发明人： | 王强;原培;吴琳琳;朱凯;李海航 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810250129.6 |
| 公开号： | CN108508093A |
| 代理机构： | 北京高沃律师事务所 11569 |
| 代理人： | 王戈 |
| 分类号： | G01N29/06(2006.01)I;G01B17/02(2006.01)I;G;G01;G01N;G01B;G01N29;G01B17;G01N29/06;G01B17/02 |
| 申请人地址： | 310000 浙江省杭州市江干区下沙学源街258号 |
| 主权项： | 1.一种工件缺陷高度的检测方法，其特征在于，包括：获取待测工件的焊缝的D扫查图像；所述D扫查图像由扫查器对待测工件的焊缝进行D扫查得到；根据所述D扫查图像确定所述待测工件的缺陷位置；根据所述D扫查图像得到所述缺陷位置处的A扫信号；所述A扫信号为所述缺陷位置处的高度信息；对所述A扫信号进行小波去噪处理，得到重构信号；对所述重构信号进行维纳滤波处理，得到所述待测工件的缺陷响应信号的估计值；对所述缺陷响应信号的估计值进行傅里叶逆变换，得到所述待测工件的缺陷响应信号的时域信号；根据所述时域信号，计算所述待测工件的缺陷的上端点衍射信号和下端点衍射信号的时间差、上端点深度、下端点深度；根据所述上端点深度、所述下端点深度、所述上端点和下端点衍射信号的时间差计算得到所述缺陷的高度。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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