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一种褪黑素原料药中杂质5-甲氧基色胺的薄层色谱分析检测方法
| 专利名称： | 一种褪黑素原料药中杂质5-甲氧基色胺的薄层色谱分析检测方法 |
| 摘要： | 本发明涉及一种褪黑素原料药中杂质5‑甲氧基色胺的薄层色谱分析检测方法，采用该方法可简便快捷的确定褪黑素原料药中相关杂质的浓度是否超标，具有节省时间、检测成本低、操作方便、设备简单、显色容易、结果直观可靠等优点。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 湖北;42 |
| 申请人： | 武汉工程大学 |
| 发明人： | 祝宏;李丽;王雯洁;李洁;潘晓涵 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810319965.5 |
| 公开号： | CN108535400A |
| 代理机构： | 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 |
| 代理人： | 崔友明;闭钊 |
| 分类号： | G01N30/90(2006.01)I;G01N30/94(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N30;G01N30/90;G01N30/94 |
| 申请人地址： | 430074 湖北省武汉市洪山区雄楚大街693号 |
| 主权项： | 1.一种褪黑素原料药中杂质5‑甲氧基色胺的薄层色谱分析检测方法，其特征在于，包括以下步骤：(a)利用待测的褪黑素原料药和有机溶剂分别配制浓度为X、0.01X、0.001X的标准溶液A、样品溶液B和样品溶液C；(b)利用5‑甲氧基色胺标准品和有机溶剂分别配制浓度为0.01X、0.001X的杂质对照溶液II和杂质对照溶液III；(c)分别取等量的标准溶液A、样品溶液B、样品溶液C、杂质对照溶液II、杂质对照溶液III，在同一块薄层板上点样，接着展开、显色，得到薄层色谱图；(d)结果判定如果薄层色谱图中标准溶液A在杂质对照溶液Ⅱ和杂质对照溶液Ⅲ出现斑点的平行位置也出现了杂质斑点，同时在标准溶液A主斑点下方还出现了若干杂质斑点，并且这些杂质斑点颜色均浅于样品溶液C和杂质对照溶液III的主斑点颜色，则待测褪黑素原料药中杂质5‑甲氧基色胺的含量低于千分之一；如果这些杂质斑点颜色比样品溶液C和杂质对照溶液III的主斑点颜色深，则待测褪黑素原料药中杂质5‑甲氧基色胺的含量高于千分之一。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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