专利名称: |
一种实时太赫兹成像装置及方法 |
摘要: |
本发明涉及一种实时太赫兹成像装置及方法,装置包括,用于产生、发射太赫兹波的太赫兹辐射装置;调整太赫兹波占空比斩波器;固定待测样品,并调整待测样品位置的电控三维位移载物平台,使太赫兹波透射待测样品;调整太赫兹波光路的光路调整装置;用于探测视场压缩后的太赫兹波,进行光电转换输出电信号的焦平面探测器;用于对焦平面探测器输出的电信号进行处理并成像的采集处理模组。本发明采用了太赫兹焦平面阵列成像和阵列式调理电路的设计,响应速度在5μs左右,成像系统响应速度在小于30ms,整个成像装置可进行快速太赫兹成像,帧频在26Hz以上;具备一定的物品外部轮廓三维重塑能力,可有效提高被测物品的识别正确率。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
北京华航无线电测量研究所 |
发明人: |
郑中信;许振丰 |
专利状态: |
有效 |
申请号: |
CN201811044630.3 |
公开号: |
CN109142267A |
代理机构: |
北京天达知识产权代理事务所(普通合伙) 11386 |
代理人: |
侯永帅;李明里 |
分类号: |
G01N21/3581(2014.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: |
100013 北京市东城区和平里南街3号 |
主权项: |
1.一种实时太赫兹成像装置,其特征在于,包括,太赫兹辐射装置(1),用于产生、发射太赫兹波至斩波器(2);斩波器(2),用于调整太赫兹波的占空比;电控三维位移载物平台(3),用于固定待测样品,并调整待测样品位置,使太赫兹波透射待测样品;光路调整装置(4),用于将斩波器(2)输出的太赫兹波调整为平行波;照射电控三维位移载物平台(3)上固定的待测样品,将透射待测样品后的平行波进行视场压缩输出到焦平面探测器(5);焦平面探测器(5),用于探测视场压缩后的太赫兹波,进行光电转换输出电信号;采集处理模组(6),用于对焦平面探测器(5)输出的电信号进行处理并成像。 |
所属类别: |
发明专利 |