专利名称: |
一种高时间分辨软X射线能谱仪 |
摘要: |
本发明提供了一种高时间分辨软X射线能谱仪,该方案包括有黑腔、前置狭缝阵列、多层镜阵列、滤片阵列、中性衰减片阵列、CMOS相机、开缝闪烁体、X射线条纹相机;黑腔内部受激光辐照产生的X射线依次经过前置狭缝阵列、多层镜阵列、滤片阵列、中性衰减片阵列后一部分X射线进入X射线条纹相机阴极狭缝被测量,另一部分X射线照射在开缝闪烁体上,并通过CMOS相机观测X射线在开缝闪烁体上产生的可见光图像对不同通道瞄准位置在线监测和校准。该方案能够用于开展高时间分辨软X射线能谱测量,增加系统的可靠性及工程可行性。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
四川;51 |
申请人: |
中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
发明人: |
谢旭飞;车兴森;刘慎业;穆宝忠;刘汉威;李晋;杨品;黄秋实;胡昕;贾飞 |
专利状态: |
有效 |
申请号: |
CN201810958873.1 |
公开号: |
CN109164120A |
代理机构: |
成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 |
代理人: |
詹永斌 |
分类号: |
G01N23/205(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N23 |
申请人地址: |
621900 四川省绵阳市游仙区科学城919-988信箱 |
主权项: |
1.一种高时间分辨软X射线能谱仪,其特征是:包括有黑腔、前置狭缝阵列、多层镜阵列、滤片阵列、中性衰减片阵列、CMOS相机、开缝闪烁体、X射线条纹相机;所述黑腔内部受激光辐照产生的X射线依次经过前置狭缝阵列、多层镜阵列、滤片阵列、中性衰减片阵列后一部分X射线进入X射线条纹相机阴极狭缝后被测量,另一部分X射线照射在开缝闪烁体上,并通过CMOS相机观测X射线在开缝闪烁体上产生的可见光图像对不同通道瞄准位置在线监测和校准;所述开缝闪烁体设置于条纹相机阴极狭缝的外圈;所述CMOS相机与X射线条纹相机的轴线成一夹角;所述多层镜阵列和滤片阵列组合,对X射线进行能选,从而得到不同能带内X射线辐射流强度分布,通过解谱能够获得X射线能谱;所述中性衰减片阵列用于调节不同能带X射线辐射流强度,使得进入X射线条纹相机阴极狭缝的X射线辐射流强度相近,降低对X射线条纹相机动态范围的要求。 |
所属类别: |
发明专利 |