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高炉渣、转炉渣和真空精炼渣X射线荧光分析漂移校正样品及其制备方法
| 专利名称： | 高炉渣、转炉渣和真空精炼渣X射线荧光分析漂移校正样品及其制备方法 |
| 摘要： | 本发明公开了高炉渣、转炉渣和真空精炼渣X射线荧光分析漂移校正样品及其制备方法，属于冶金材料分析技术领域。该制备方法包括将炉渣样品粉粹研磨得颗粒样品，还包括将颗粒样品置于高温炉中，缓慢升温至1250±10℃，熔融10～20min，得到熔体，再将熔体倒入预先加热至200～400℃的模具中，自然冷却至室温，得到玻璃状样品。本发明设计的制样方法简单可行，相比于传统的粉末压片法，能够在较大程度上节省人力及物力，且制备的漂移校正样品质地均匀，外观完整，稳定性高，使用寿命达半年以上，显著提高了高炉渣、真空渣及真空精炼渣的测量过程稳定性，大大降低了因样品变质引起的分析波动，提高产品测定结果的准确性。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 湖北;42 |
| 申请人： | 武汉钢铁有限公司 |
| 发明人： | 沈克;张兆雄;周大庆;杨波 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201810924939.5 |
| 公开号： | CN109164124A |
| 代理机构： | 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 |
| 代理人： | 王和平 |
| 分类号： | G01N23/223(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N23 |
| 申请人地址： | 430083 湖北省武汉市青山区厂前2号门股份公司机关 |
| 主权项： | 1.一种高炉渣、转炉渣和真空精炼渣X射线荧光分析漂移校正样品的制备方法，包括将炉渣样品粉粹研磨得颗粒样品，其特征在于：还包括将所述颗粒样品置于高温炉中，缓慢升温至1250±10℃，熔融10～20min，得到熔体，再将所述熔体倒入预先加热至200～400℃的模具中，自然冷却至室温，得到玻璃状样品。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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