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一种X射线数字成像缺陷尺寸测量方法
| 专利名称： | 一种X射线数字成像缺陷尺寸测量方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种X射线数字成像缺陷尺寸测量方法，包括以下步骤：S1：通过X射线数字成像检测得到待检测工件的检测图像；S2：将待检测工件的检测图像与预定的检测图谱进行比对，得到待检测工件的近似缺陷尺寸；S3：计算检测图像的不清晰度，并计算得到待检测工件的近似缺陷尺寸与检测图像的不清晰度的比值；S4：根据预定的缺陷尺寸与不清晰度比值同波高比例的关系，确定待检测工件的缺陷尺寸测量的波高比例；S5：根据所确定的波高比例进行待检测工件的缺陷尺寸的测量。本发明的缺陷尺寸测量方法具有操作方便、适用性广、可靠性高、准确性高等优点。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 山东;37 |
| 申请人： | 山东非金属材料研究所 |
| 发明人： | 王从科;董方旭;赵付宝;凡丽梅;张霞;郑素萍 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811143724.6 |
| 公开号： | CN109187597A |
| 代理机构： | 北京市隆安律师事务所 11323 |
| 代理人： | 付建军 |
| 分类号： | G01N23/04(2018.01)I;G;G01;G01N;G01N23 |
| 申请人地址： | 250031 山东省济南市天桥区田家庄东路3号 |
| 主权项： | 1.一种X射线数字成像缺陷尺寸测量方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：通过X射线数字成像检测得到待检测工件的检测图像；S2：将待检测工件的检测图像与预定的检测图谱进行比对，得到待检测工件的近似缺陷尺寸；S3：计算检测图像的不清晰度，并计算得到待检测工件的近似缺陷尺寸与检测图像的不清晰度的比值；S4：根据预定的缺陷尺寸与不清晰度比值同波高比例的关系，确定待检测工件的缺陷尺寸测量的波高比例；S5：根据所确定的波高比例进行待检测工件的缺陷尺寸的测量。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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