原文传递
X射线相位成像装置和含有纤维的材料的缺陷检测方法
| 专利名称： | X射线相位成像装置和含有纤维的材料的缺陷检测方法 |
| 摘要： | 本发明提供一种X射线相位成像装置和含有纤维的材料的缺陷检测方法。该X射线相位成像装置具备控制部，该控制部基于材料的暗场像来获取与材料的缺陷有关的信息。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 日本;JP |
| 申请人： | 株式会社岛津制作所 |
| 发明人： | 佐野哲;白井太郎;土岐贵弘;堀场日明;森本直树 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201810803685.1 |
| 公开号： | CN109283200A |
| 代理机构： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 |
| 代理人： | 刘新宇 |
| 分类号： | G01N23/041(2018.01)I;G;G01;G01N;G01N23 |
| 申请人地址： | 日本京都府 |
| 主权项： | 1.一种X射线相位成像装置，具备：X射线源，其向作为被摄体的含有纤维的材料照射X射线；图像信号检测器，其对基于从所述X射线源照射的所述X射线的图像信号进行检测；多个光栅，所述多个光栅被配置在所述X射线源与所述图像信号检测器之间，且包括被照射来自所述X射线源的所述X射线的第一光栅和被照射通过了所述第一光栅的所述X射线的第二光栅；图像获取部，其基于由所述图像信号检测器检测到的所述图像信号，来获取存在所述材料的情况下和不存在所述材料的情况下的、表示X射线的干涉强度的衰减率的暗场像；以及控制部，其基于由所述图像获取部获取到的所述材料的暗场像，来获取与所述材料的缺陷有关的信息。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
检索历史
应用推荐
