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一种氟离子的检测方法及去除方法
| 专利名称： | 一种氟离子的检测方法及去除方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种氟离子的检测方法及去除方法。本发明以固定有碳量子点（SiCDs）的介孔二氧化硅层为自荧光标记物，同时以荧光团纯碳点（NCDs）和F离子受体镍离子（Ni2+）螯合物为猝灭荧光探针，形成双荧光团复合超顺磁性荧光探针，利用氟离子与纯碳点竞争性结合荧光探针中的Ni2+，从而改变荧光强度来实现氟离子的快速、高效、特异、可视化检测，其检测限为65 nM，线性范围为1～25μM；本发明还同时建立了一种简便、快速、特异、高效的氟离子去除方法，在自来水中对氟离子的去除有效率高达96%，且该荧光探针可以重复回收利用，可望在生物与医学监控及检测领域得到广泛的应用。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 广东;44 |
| 申请人： | 中山大学 |
| 发明人： | 许跃;李晓磊;庄琳;李倩琍 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811125523.3 |
| 公开号： | CN109297943A |
| 代理机构： | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 |
| 代理人： | 陈卫 |
| 分类号： | G01N21/64(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 510275 广东省广州市海珠区新港西路135号 |
| 主权项： | 1.一种氟离子的检测方法，其特征在于，所述检测方法是利用氟离子与纯碳点竞争性结合荧光探针中的Ni2+，从而改变荧光强度来实现氟离子的定量检测；其中，所述荧光探针的内核为Fe3O4纳米颗粒，外壳为修饰在所述Fe3O4纳米颗粒外表面上的含有机硅烷官能化碳点的介孔二氧化硅。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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