专利名称: |
一种测定聚合物结晶度、介晶度和无定型度的方法 |
摘要: |
本发明公开了一种测定聚合物结晶度、介晶度和无定型度的方法。包括:(1)测定聚合物的结晶度;(2)测定聚合物的(结晶+介晶)度;(3)根据步骤(1)和步骤(2)数据,计算出:聚合物的介晶度=C结+介%‑C结%;聚合物的无定型度=1‑C结+介%‑C结%。本发明改变了传统DSC和WAXD等方法仅仅可以测定结晶聚合物结晶度的历史。结合DMTA的结果不仅可以得到结晶度的结果,还可以得到介晶度的结果。同时也说明通过硫化交联工艺控制天然橡胶和杜仲胶的结晶,被破坏的结晶区首先转变成介晶区,然后才会转变成无定形区。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
北京化工大学 |
发明人: |
张继川;张立群;张天鑫;刘根实;董梦杰 |
专利状态: |
有效 |
申请号: |
CN201710607146.6 |
公开号: |
CN109297997A |
代理机构: |
北京知舟专利事务所(普通合伙) 11550 |
代理人: |
周媛 |
分类号: |
G01N23/20(2018.01)I;G;G01;G01N;G01N23 |
申请人地址: |
100029 北京市朝阳区北三环东路15号 |
主权项: |
1.一种测定聚合物结晶度、介晶度和无定型度的方法,其特征在于所述方法包括:(1)测定聚合物的结晶度;(2)测定聚合物的(结晶+介晶)度;测定聚合物100%无定型状态下玻璃化转变区域的tanδ峰面积,用Ar表征;然后测定聚合物结晶状态下玻璃化转变区域的tanδ峰面积,用Aa表征;根据聚合物由结晶相和无定型相组成的三相模型理论,该聚合物的(结晶+介晶)度为:(3)根据步骤(1)和步骤(2)数据,计算出:聚合物的介晶度=C结+介%‑C结%聚合物的无定型度=1‑C结+介%‑C结%。 |
所属类别: |
发明专利 |