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多层金属结构快速检测方法及其装置、设备和存储介质
| 专利名称： | 多层金属结构快速检测方法及其装置、设备和存储介质 |
| 摘要： | 本发明提供了一种多层金属结构快速检测方法及其装置、设备和存储介质，通过使用直角三角形激励线圈，在待检测样品中激励产生流向相互垂直的电涡流，使用两组磁阻传感器阵列，分别测量垂直电涡流对应的磁场，通过扫描可获得样品表面的磁场图像，然后对两组传感器所采集到的磁场图像进行空间上的平移、磁场旋转，合成为新的对任意方向的缺陷都敏感的磁场图像，最后利用多频成像技术减去铆钉等结构体本身的信号，可以快速检测多层金属结构中的深层缺陷。本发明能够通过一次扫描，检测出多层金属结构任意方向上的缺陷，实现对缺陷的检测灵敏度不依赖于缺陷方向，同时检测速度快，可在复杂背景结构下快速识别并量化缺陷。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 上海;31 |
| 申请人： | 上海科技大学 |
| 发明人： | 叶朝锋;汪洋;陶钰;王美玲 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811409132.4 |
| 公开号： | CN109298069A |
| 代理机构： | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 |
| 代理人： | 高彦 |
| 分类号： | G01N27/85(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N27 |
| 申请人地址： | 201210 上海市浦东新区华夏中路393号 |
| 主权项： | 1.一种多层金属深层缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：分别获取针对金属待测物至少两对不同频率的对应于第一多频激励电流的第一磁场信号、及对应于与第一多频激励电流互相垂直的第二多频激励电流的第二磁场信号；将各对不同频率的所述第一磁场信号、及第二磁场信号进行解调并混合以消除边沿信号、及背景信号；将混合的相同频率的所述第一磁场信号和/或第二磁场信号进行平移、及相位旋转处理以得到对应该频率且针对所述金属待测物任意方向上的缺陷都敏感的组合磁场信号；对多个不同频率的所述组合磁场信号通过多频信号空间变换混合算法进行融合形成最终磁场信号，以消除铆钉类信号并凸显深层缺陷信号。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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