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原文传递一种光学对比检测装置

专利名称：	一种光学对比检测装置
摘要：	本实用新型属于光学检测领域，涉及一种光学对比检测装置。包括计算机、分光仪控制器和检测仪；检测仪包括检测仪外壳、光源、三角分光镜、第一反射镜、第一整形镜片、标准样品、第一滤光片、第一分光仪、第二反射镜、第二整形镜片、待测样品、第二滤光片、第二分光仪；标准样品为台阶形，调节第二微位移台的高度从而使第一路光穿过不同厚度位置的标准样品。通过不同厚度的标准样品对待测样品进行吸光度的标定，从而可以避免仪器本身造成的检测误差；设置待测样品的高度可以调节，从而可以检测不同位置处的待测样品。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	河北;13
申请人：	井爱壹
发明人：	井爱壹
专利状态：	有效
申请号：	CN201820924228.3
公开号：	CN208476774U
分类号：	G01N21/31(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	063000 河北省唐山市路北区西山道119号果园乡政府
主权项：	1.一种光学对比检测装置，其特征在于包括计算机（1）、分光仪控制器（2）和检测仪（3）；检测仪（3）包括检测仪外壳（301）、光源（302）、三角分光镜（303）、第一反射镜（304）、第一整形镜片（305）、标准样品（306）、第一滤光片（307）、第一分光仪（308）、第二反射镜（309）、第二整形镜片（310）、待测样品（311）、第二滤光片（312）、第二分光仪（313）；检测仪外壳（301）为长方体形状并设置有容纳光源（302）、第一整形镜片（305）、标准样品（306）、第一滤光片（307）、第一分光仪（308）、第二整形镜片（310）、待测样品（311）、第二滤光片（312）、第二分光仪（313）的凹槽；其中光源（302）为激光光源（302），发射出正方形光斑；安装光源（302）的凹槽单独设置在一个表面，安装第一分光仪（308）的凹槽、安装第二分光仪（313）的凹槽均设置在与光源（302）相对的表面上；检测仪外壳（301）内设置有从光源（302）光出口到第一分光仪（308）、第二分光仪（313）光入口的光路通道；光路通道在光源（302）一侧被三角分光镜（303）分叉为第一光通道和第二光通道；安装第一整形镜片（305）的凹槽、安装标准样品（306）的凹槽、安装第一滤光片（307）的凹槽均设置在与安装光源（302）的凹槽相邻的一个表面上，第一光路穿透安装第一整形镜片（305）的凹槽、安装标准样品（306）的凹槽、安装第一滤光片（307）的凹槽；安装第二整形镜片（310）的凹槽、安装待测样品（311）的凹槽、安装第二滤光片（312）的凹槽均设置在与设置安装第一反射镜（304）的凹槽的表面相对的表面上，第二光路穿透安装第二整形镜片（310）的凹槽、安装待测样品（311）的凹槽、安装第二滤光片（312）的凹槽；第一反射镜（304）设置在第一光通道内，用于将光源（302）发出的光反射到第一整形镜片（305），第二反射镜（309）设置在第二光通道内，用于将光源（302）发出的光反射到第二整形镜片（310）；计算机（1）连接光源（302）和分光仪控制器（2）；分光仪控制器（2）连接第一分光仪（308）和第二分光仪（313）；光源（302）发射的光经三角分光镜（303）分成第一路光和第二路光；第一路光进入第一光通道，经第一反射镜（304）反射后依次穿过第一整形镜片（305）、标准样品（306）、第一滤光片（307）进入第一分光仪（308）；第二路光进入第二光通道，经第二反射镜（309）反射后依次穿过第二整形镜片（310）、待测样品（311）、第二滤光片（312）进入第二分光仪（313）；三角分光镜（303）底部设置有第一微位移台（314）、标准样品（306）底部设置有第二微位移台（315）、待测样品（311）底部设置有第三微位移台（316），微位移台调节三角分光镜（303）、标准样品（306）、待测样品（311）的高度；标准样品（306）为台阶形，调节第二微位移台的高度从而使第一路光穿过不同厚度位置的标准样品（306）。
所属类别：	实用新型