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原文传递用于同轴全息显微术的装置

专利名称：	用于同轴全息显微术的装置
摘要：	一种测量装置(101)，包括：发射相干光(111)的照射装置(110)；比色皿(120)，其限定了用于接收可能包括外来源的微观物体(140)的流体(130)的内部体积(121)，比色皿被布置为接收相干光并使其通过相对的入口开口和出口开口(150,153)从那里离开，入口开口(150)被入口窗口(151)关闭，由此流体中存在的可能的微观物体散射光的一部分，散射光和非散射光干涉以形成干涉条纹；图像传感器(160)，图像传感器被配置为通过接收传播通过比色皿的光来捕获全息数字图像帧(170)；以及出口窗口(152)，其被布置为关闭比色皿的出口开口(153)。图像传感器(160)被安装成与比色皿(120)直接接触。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	芬兰;FI
申请人：	优沃特有限公司
发明人：	艾萨·哈玛拉伊宁;泰罗·凯斯蒂
专利状态：	有效
申请号：	CN201780039185.9
公开号：	CN109416309A
代理机构：	北京品源专利代理有限公司 11332
代理人：	王小衡;王天鹏
分类号：	G01N15/02(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N15
申请人地址：	芬兰坦佩雷
主权项：	1.一种用于同轴全息显微术的测量装置(101)，包括：照射装置(110)，该照射装置(110)被配置为发射相干光(111)；比色皿(120)，该比色皿(120)限定了用于接收可能包括外来源的微观物体(140)的流体(130)的内部体积(121)，所述比色皿被布置为接收所述相干光并在使其相应地通过相对的入口开口和出口开口(150,153)传播通过所述比色皿之后从那里离开，所述入口开口(150)被入口窗口(151)关闭，由此在流体中存在的可能的微观物体散射所述光的一部分，被散射的光和非散射的光干涉使得在所述微观物体的后面形成干涉条纹；图像传感器(160)，该图像传感器(160)包括光敏单元(161)，所述图像传感器被布置为通过接收传播通过所述比色皿的光来捕获全息数字图像帧(170)；以及出口窗口(152)，该出口窗口(152)被布置为关闭所述比色皿的出口开口(153)；其特征在于，所述图像传感器(160)被安装为与所述比色皿(120)直接接触。
所属类别：	发明专利