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玉石鉴别方法、装置、系统和存储介质
| 专利名称： | 玉石鉴别方法、装置、系统和存储介质 |
| 摘要： | 本发明涉及一种玉石鉴别方法、装置、系统和存储介质。所述方法包括：采用具有反射式太赫兹光路的太赫兹时域光谱装置，获取参考样品的第一太赫兹时域谱和玉石样品的第二太赫兹时域谱；分别对所述第一太赫兹时域谱和所述第二太赫兹时域谱进行傅里叶变换，得到所述参考样品的第一太赫兹频域谱和所述玉石样品的第二太赫兹频域谱；根据所述第一太赫兹频域谱和所述第二太赫兹频域谱，计算所述玉石样品的吸收系数谱或者所述玉石样品的折射率谱；根据所述吸收系数谱或者折射率谱确定所述玉石样品的真伪。使用该方法对玉石样品进行鉴别，可以不破坏玉石样品的品质，且计算、分析过程简单。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 广东;44 |
| 申请人： | 深圳市太赫兹科技创新研究院有限公司;雄安华讯方舟科技有限公司 |
| 发明人： | 李灿 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811076117.2 |
| 公开号： | CN109444050A |
| 代理机构： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 |
| 代理人： | 王宁 |
| 分类号： | G01N21/25(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 518102 广东省深圳市宝安区西乡街道宝田一路臣田工业区第37栋二楼东 |
| 主权项： | 1.一种玉石鉴别方法，其特征在于，包括：采用具有反射式太赫兹光路的太赫兹时域光谱装置，获取参考样品的第一太赫兹时域谱和玉石样品的第二太赫兹时域谱；分别对所述第一太赫兹时域谱和所述第二太赫兹时域谱进行傅里叶变换，得到所述参考样品的第一太赫兹频域谱和所述玉石样品的第二太赫兹频域谱；根据所述第一太赫兹频域谱和所述第二太赫兹频域谱，计算所述玉石样品的吸收系数谱或者所述玉石样品的折射率谱；根据所述吸收系数谱或者折射率谱确定所述玉石样品的真伪。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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