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NF系列防热材料产品X射线检测方法
| 专利名称： | NF系列防热材料产品X射线检测方法 |
| 摘要： | NF系列防热材料产品X射线检测方法，首先制作预制体阶段射线检测像质计、预制体阶段密度不均匀标准试块，对X射线机采用源在内偏心单壁透照技术，得到包括待检测产品、预制体阶段射线检测像质计影像的底片以及包含预制体阶段密度不均匀标准试块影像的底片，进行灵敏度、金属夹杂物、低密度不均匀性检测，然后制作固化后阶段射线检测像质计、固化后阶段密度不均匀标准试块，得到包含固化后阶段射线检测像质计、待检测产品影像的底片以及包含固化后阶段密度不均匀标准试块影像的底片，进行夹杂、孔洞、裂纹、密度不均匀性检测，最后得到NF系列防热材料产品X射线检测结果。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 北京卫星制造厂有限公司 |
| 发明人： | 孙利;高小松;马宁;杨耀东 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811241983.2 |
| 公开号： | CN109444180A |
| 代理机构： | 中国航天科技专利中心 11009 |
| 代理人： | 武莹 |
| 分类号： | G01N23/04(2018.01)I;G;G01;G01N;G01N23 |
| 申请人地址： | 100190 北京市海淀区知春路63号 |
| 主权项： | 1.NF系列防热材料产品X射线检测方法，其特征在于包括如下步骤：步骤(1)制作预制体阶段射线检测像质计；步骤(2)选取设备、仪器与器材；步骤(3)制作预制体阶段密度不均匀标准试块：步骤(4)对X射线机采用源在内偏心单壁透照技术，得到包括待检测产品、预制体阶段射线检测像质计影像的底片，当预制体阶段射线检测像质计影像满足待检测产品要求的检测灵敏度时，对待检测产品根据工艺文件检测要求对产品的检测灵敏度进行评定，当待检测产品的灵敏度满足要求时，根据底片中预制体阶段射线检测像质计、待检测产品的影像判断待检测产品中是否有金属夹杂物，然后得到包含预制体阶段密度不均匀标准试块像影的底片，并进行预制阶段低密度不均匀性检测；步骤(5)制作固化后阶段射线检测像质计、固化后阶段密度不均匀标准试块；步骤(6)根据步骤(4)得到包含固化后阶段射线检测像质计、待检测产品影像的底片，进行夹杂、孔洞和裂纹检测，然后得到包含固化后阶段密度不均匀标准试块像影的底片，并进行固化后阶段密度均匀性检测，当待检测产品预制体阶段、固化后阶段检测均通过时，对应的NF系列防热材料产品X射线检测通过。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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