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快速测定痕量轻元素上照式X射线能谱分析仪及分析方法
| 专利名称： | 快速测定痕量轻元素上照式X射线能谱分析仪及分析方法 |
| 摘要： | 本发明属于元素分析检测技术领域，特别涉及一种快速测定痕量轻元素上照式X射线能谱分析仪及分析方法。分析仪包括机柜(101)、电脑(102)、样品腔室(303)、X射线光管(301)、探测器(302)、样品杯(305)、高压电源(306)、升降平台(201)和真空泵；分析方法为：将表面光洁待测样品(501)装入样品杯(305)中，通过电脑(102)控制升降平台(201)将样品杯(305)向上升起，进入样品腔室(303)内的检测位置并采用无油真空泵快速抽真空，可同时测定痕量多个轻元素；检出限可低至1ppm。本发明能够极大降低空气对轻元素特征谱峰的吸收，降低检出限；整个测试无耗材，具有操作简单、无损快速、精确定量、低成本等特点。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 钢研纳克检测技术股份有限公司 |
| 发明人： | 程大伟;刘明博;胡学强;廖学亮;倪子月;杨博赞;陈吉文 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811265635.9 |
| 公开号： | CN109540948A |
| 代理机构： | 北京中安信知识产权代理事务所(普通合伙) 11248 |
| 代理人： | 李彬;张小娟 |
| 分类号： | G01N23/223(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N23 |
| 申请人地址： | 100081 北京市海淀区高粱桥斜街13号 |
| 主权项： | 1.一种快速测定痕量轻元素上照式X射线能谱分析仪，包括机柜(101)、电脑(102)、样品腔室(303)、X射线光管(301)、探测器(302)、样品杯(305)、高压电源(306)、升降平台(201)和真空泵；其特征在于：所述机柜(101)内部设有一隔板(202)，将机柜(101)分隔为上下两层空间；所述样品腔室(303)固接在隔板(202)的上表面中部，样品腔室(303)的顶部设有X射线光管(301)和探测器(302)，X射线光管(301)发出的X射线从斜上方照射样品上表面，探测器(302)与X射线光管(301)均位于样品上方；所述X射线光管(301)的出射口设有一级准直器(307)；所述样品腔室(303)为快抽、慢泄的真空状态；所述电脑(102)和升降平台(201)布置在机柜(101)的下层空间；用于装载待测样品(501)的所述样品杯(305)可拆卸地安装在升降平台(201)上，并与样品腔室(303)底部的进样口相对应；样品杯(305)通过升降平台(201)向上升起，由进样口进入样品腔室(303)内的检测位置；所述电脑(102)分别与升降平台(201)、真空泵的电磁阀、X射线光管(301)和探测器(302)连接；所述高压电源(306)为X射线光管(301)提供高压电。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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