专利名称: |
一种基于模板匹配与查找轮廓的细胞计数方法 |
摘要: |
本发明提供一种基于模板匹配与查找轮廓的细胞计数方法,涉及细胞计数方法。本发明首先读取显微镜下细胞扫描图像,建立网格模板图像;然后利用模板匹配定位计数区域;对细胞计数区域进行灰度变换和局部亮度补偿;再依次进行对比度拉伸、自适应二值化处理、填充空洞;最后对填充结果图查找轮廓,并处理统计所有的细胞区域,得到显微镜下细胞扫描图像中细胞的数量。本发明解决了现有细胞计数技术效率较低、计数准确率不高的问题。本发明可用于细胞的准确计数。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
黑龙江;23 |
申请人: |
林伟阳 |
发明人: |
杨宪强;于兴虎;高会军;林伟阳;佟明斯;华子昂 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-05-15T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-08-16T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201910403660.7 |
公开号: |
CN110132823A |
代理机构: |
哈尔滨市松花江专利商标事务所 |
代理人: |
时起磊 |
分类号: |
G01N15/10(2006.01);G;G01;G01N;G01N15 |
申请人地址: |
150090 黑龙江省哈尔滨市南岗区长江路130号 |
主权项: |
1.一种基于模板匹配与查找轮廓的细胞计数方法,其特征在于,具体包括以下步骤: 步骤一、读取显微镜下细胞扫描图像,根据已知横竖网格数量与间距,建立网格模板图像; 步骤二、利用模板匹配定位计数区域:根据步骤一中的得到的网格模板图像,利用带旋转角度和尺度缩放的模板匹配算法完成对细胞计数区域的定位,进而得到细胞计数区域; 步骤三、对细胞计数区域进行灰度变换和局部亮度补偿; 步骤四、对经过步骤三得到的补偿结果图进行对比度拉伸; 步骤五、自适应二值化处理经过步骤四得到的对比度拉伸结果图; 步骤六、填充经过步骤五得到的二值化结果图中的空洞; 步骤七、对经过步骤六得到的填充结果图查找轮廓,并处理统计所有的细胞区域,得到显微镜下细胞扫描图像中细胞的数量。 2.根据权利要求1所述一种基于模板匹配与查找轮廓的细胞计数方法,其特征在于,步骤三具体包括以下过程: 对步骤二得到的细胞计数区域进行灰度变换,统计得到的灰度图像素点的灰度值,计算灰度平均值a;设定块大小,将灰度图分块,统计子块灰度值,去除最大灰度值与最小灰度值,计算子块的灰度平均值b和亮度矩阵M;将M中的每个元素与a作差,得到子块的亮度差值矩阵N,将所有子块的亮度差值矩阵N在对应位置拼接为与原灰度图大小相同的亮度分布矩阵P,则亮度补偿后的图像为原灰度图与P的差值。 3.根据权利要求1或2所述一种基于模板匹配与查找轮廓的细胞计数方法,其特征在于,步骤四中使用两段式的分段线性变换函数进行对比度拉伸,具体为: 其中,(x1,y1)为分段线性变换函数中折点位置坐标,x为所述补偿结果图中的像素值,k1为y1/x1,k2为(255-y1)/(255-x1)。 4.根据权利要求3所述一种基于模板匹配与查找轮廓的细胞计数方法,其特征在于,所述步骤五具体为: 利用大小为ew1、eh1的滤波核对所述对比度拉伸结果图进行均值滤波处理,若原图像素点值大于滤波后该像素点值与偏移量的和,则将该点像素值设为255,否则设为0。 5.根据权利要求4所述一种基于模板匹配与查找轮廓的细胞计数方法,其特征在于,所述步骤六具体为:延展所述二值化结果图,并利用漫水填充法,填充二值化结果图中的连通区域,然后裁剪延展图像并得到填充后的结果图。 6.根据权利要求5所述一种基于模板匹配与查找轮廓的细胞计数方法,其特征在于,所述步骤七具体为: 对经过步骤六得到的填充结果图查找轮廓,计算轮廓的平均面积,设定面积阈值,对大于该阈值的轮廓,使用轮廓面积除以阈值的向下取整结果作为该细胞区域的个数,对小于等于该阈值的轮廓,直接将该轮廓区域计为一个细胞,统计所有细胞区域,得到显微镜下细胞扫描图像中细胞的数量。 7.根据权利要求6所述一种基于模板匹配与查找轮廓的细胞计数方法,其特征在于,所述面积阈值设为轮廓的平均面积的3倍大小。 |
所属类别: |
发明专利 |