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原文传递一种滤波芯片引脚极性的检测方法

专利名称：	一种滤波芯片引脚极性的检测方法
摘要：	本发明涉及滤波芯片技术领域，具体为一种滤波芯片引脚极性的检测方法，包括如下步骤：S1、提供一光学检测设备和运输滤波芯片的输送机构，提供一控制光学检测设备和输送机构所用的上位机；S2、根据上位机触发信号，经过灰度化和去噪处理得到待处理的灰度化图像信息；S3、利用图像处理技术，提取相关数据及信息；S4、根据设定的尺寸及标准参数公差值判断该区域是否合格。利用图像处理技术对实时采集到的图像进行模板定位匹配，从而实现对芯片引脚极性的视觉检测，具有突出的实质性特点和显著的进步。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	广东;44
申请人：	何应辉
发明人：	何应辉
专利状态：	有效
申请日期：	2019-07-02T00:00:00+0800
发布日期：	2019-08-27T00:00:00+0800
申请号：	CN201910590565.2
公开号：	CN110174403A
代理机构：	北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：	汤东凤
分类号：	G01N21/84(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	523294 广东省东莞市石碣镇同富东路台达商住楼2栋803
主权项：	1.一种滤波芯片引脚极性的检测方法，其特征在于，包括如下步骤： S1、提供一光学检测设备和运输滤波芯片的输送机构，光学检测设备上设有一相机以及提供相机光源的立方体光源，立方体光源位于输送机构的正上方，提供一控制光学检测设备和输送机构所用的上位机； S2、根据上位机触发信号，相机扫描采集输送机构上滤波芯片上表面的图像信息，经过灰度化和去噪处理得到待处理的灰度化图像信息； S3、利用图像处理技术对实时采集到的图像进行模板匹配对比，对区域内的图像作进一步的分析，提取相关数据及信息； S4、根据设定的尺寸及标准参数公差值判断该区域是否合格，从而达到对滤波芯片引脚极性的快速检测。 2.根据权利要求1所述的一种滤波芯片引脚极性的检测方法，其特征在于：所述步骤S2中，设定相机的第一焦距值，采用相机的第一焦距值对滤波芯片进行第一次扫描，得到第一扫描结果，即得到完整扫描结果。 3.根据权利要求1所述的一种滤波芯片引脚极性的检测方法，其特征在于：所述步骤S1中相机选用灵敏度高的CCD或CMOS相机。 4.根据权利要求1所述的一种滤波芯片引脚极性的检测方法，其特征在于：所述相机与水平面所成夹角为90°。 5.根据权利要求1所述的一种滤波芯片引脚极性的检测方法，其特征在于：所述立方体光源射出的光源的颜色为白色。 6.根据权利要求1-5任意一项所述的一种滤波芯片引脚极性的检测方法，其特征在于：所述滤波芯片的上表面一侧设置有增大反光发射率且由多面组成的斜切面。 7.根据权利要求1-5任意一项所述的一种滤波芯片引脚极性的检测方法，其特征在于：所述滤波芯片的上表面一侧设置成用于提升识别度的锥形凹面结构。 8.根据权利要求1-5任意一项所述的一种滤波芯片引脚极性的检测方法，其特征在于：所述滤波芯片的上表面一侧设置成用于提升识别度的双圆点或者多圆点凹面结构。
所属类别：	发明专利