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原文传递一种漫反射结构光的表面缺陷光学检测系统和方法

专利名称：	一种漫反射结构光的表面缺陷光学检测系统和方法
摘要：	本发明公开了一种漫反射结构光的表面缺陷光学检测系统和方法，其中系统包括图像采集模块、图像处理模块、漫反射光源和结构光光栅，所述漫反射光源的光线经过结构光光栅后照射到待测物体上，并在待测物体形成明暗相间的光线形状，所述图像采集模块和图像处理模块连接；所述图像采集模块用于采集待测物体的图像信息，并将采集到的图像信息发送至图像处理模块；所述图像处理模块用于根据图像信息获取光线形状的形状参数，并根据形状参数对待测物体进行缺陷分析。本发明在待测物上照射呈现明暗相间的光线形状后，根据光线形状的形状参数对待测物体进行缺陷分析，能够检测出待测物上的大缺陷和小缺陷，可广泛应用于自动光学检测领域。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	广东;44
申请人：	深圳市智能机器人研究院
发明人：	陈庚亮;郑爽
专利状态：	有效
申请日期：	2019-06-13T00:00:00+0800
发布日期：	2019-09-20T00:00:00+0800
申请号：	CN201910509569.3
公开号：	CN110261390A
代理机构：	广州嘉权专利商标事务所有限公司
代理人：	胡辉
分类号：	G01N21/88(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	518000 广东省深圳市南山区粤海街道粤兴二道1号深圳虚拟大学园重点实验室平台大楼A306
主权项：	1.一种漫反射结构光的表面缺陷光学检测系统，其特征在于，包括图像采集模块、图像处理模块、漫反射光源和结构光光栅，所述漫反射光源的光线经过结构光光栅后照射到待测物体上，并在待测物体形成明暗相间的光线形状，所述图像采集模块和图像处理模块连接；所述图像采集模块用于采集待测物体的图像信息，并将采集到的图像信息发送至图像处理模块；所述图像处理模块用于根据图像信息获取光线形状的形状参数，并根据形状参数对待测物体进行缺陷分析。 2.根据权利要求1所述的一种漫反射结构光的表面缺陷光学检测系统，其特征在于，还包括用于传送待测物体的传送装置，所述传送装置包括移动平台和用于控制移动平台运动的运动控制模块，所述运动控制模块和图像处理模块连接。 3.根据权利要求1所述的一种漫反射结构光的表面缺陷光学检测系统，其特征在于，所述漫反射光源包括漫射板和多个灯带模块，各所述灯带模块包括串联灯带和用于控制串联灯带的亮度的电流驱动单元。 4.根据权利要求3所述的一种漫反射结构光的表面缺陷光学检测系统，其特征在于，所述串联灯带的亮度依次增加或依次减小。 5.根据权利要求4所述的一种漫反射结构光的表面缺陷光学检测系统，其特征在于，所述串联灯带由多个LED灯串联组成，所述LED灯为白色LED灯、红色LED灯及蓝色LED灯中任一种LED灯。 6.根据权利要求1所述的一种漫反射结构光的表面缺陷光学检测系统，其特征在于，还包括光电传感器，所述光电传感器与图像处理模块连接。 7.一种漫反射结构光的表面缺陷光学检测方法，其特征在于，包括以下步骤：控制待测物移动至漫反射光源区后，在待测物体上形成明暗相间的光线形状，并获取待测物的图像信息；根据图像信息获取光线形状的形状参数，并根据形状参数对待测物体进行缺陷分析。 8.根据权利要求7所述的一种漫反射结构光的表面缺陷光学检测方法，其特征在于，所述控制待测物移动至漫反射光源区后，在待测物体上形成明暗相间的光线形状，并获取待测物的图像信息这一步骤，具体包括以下步骤：控制待测物在移动平台运动上移动，并在检测到待测物经过漫反射光源区时，采集待测物的图像信息；判断图像信息是否符合要求，若符合，停止采集测物的图像信息；反之，按照预设方式控制漫反射光源的亮度，并继续采集待测物的图像信息，直到图像信息符合要求。 9.根据权利要求8所述的一种漫反射结构光的表面缺陷光学检测方法，其特征在于，所述形状参数包括明亮区域和光线形状的边界线，所述根据图像信息获取光线形状的形状参数，并根据形状参数对待测物体进行缺陷分析这一步骤，具体包括以下步骤： A1、从图像信息中获取待测图像，对待测图像进行预处理后，依次获取光线形状的明亮区域和光线形状的边界线； A2、依次结合明亮区域和边界线提取并分析待测物的缺陷信息，并输出缺陷结果； A3、判断是否完成整个待测物的缺陷信息提取，若是，结束检测步骤；反正，返回执行步骤A1。 10.根据权利要求9所述的一种漫反射结构光的表面缺陷光学检测方法，其特征在于，所述步骤A2，具体包括以下步骤：根据明亮区域进行灰度值分割，并根据灰度值提取表面曲率变化大的缺陷，以及分析缺陷类型；将边界线拟合成一条曲线，并根据曲线的梯度变化情况提取表面曲率变化小的缺陷，以及分析缺陷类型。
所属类别：	发明专利