详情

原文传递一种缺陷检测装置及其方法

专利名称：	一种缺陷检测装置及其方法
摘要：	本发明公开了一种缺陷检测装置，可通过依次控制环形LED光源的点亮区域，获取多幅高光区域均无交叠的待融合图像，并且通过多幅待融合图像合成无高光的待测物缺陷检测图像，以消除高光对待测物缺陷检出的影响，从而该装置可以检测高反射表面的缺陷，避免了高光对高反射曲面的表面缺陷检测的影响，并且依次控制环形LED光源的点亮区域，保证了高反射弯曲表面上的所有缺陷都能被照明，提高了高反射表面的缺陷检出率，可实现高反射表面的缺陷自动检测。本发明还公开了一种缺陷检测方法。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	上海;31
申请人：	上海御微半导体技术有限公司
发明人：	于凯航
专利状态：	有效
申请日期：	2019-07-26T00:00:00+0800
发布日期：	2019-09-27T00:00:00+0800
申请号：	CN201910683968.1
公开号：	CN110286134A
代理机构：	北京品源专利代理有限公司
代理人：	孟金喆
分类号：	G01N21/95(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	201203 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区芳春路400号1幢3层
主权项：	1.一种缺陷检测装置，其特征在于，包括：载物台，所述载物台用于承载待测物；环形LED光源，所述环形LED光源与所述待测物正对设置，所述环形LED光源用于照射所述待测物；所述环形LED光源包括多个LED灯，多个所述LED灯环形排列且沿所述环形LED光源径向方向呈列排列，每个所述LED灯均与控制单元电连接，所述控制单元分别控制每个所述LED灯的点亮或熄灭；图像采集单元，所述图像采集单元设置在所述环形LED光源远离所述待测物的一侧；控制单元，所述控制单元和图像采集单元相连；所述控制单元依次控制所述环形LED光源的点亮区域，所述点亮区域包括至少一列所述LED灯；相邻两次点亮的所述点亮区域至少部分所述LED灯不同；所述图像采集单元在每次点亮区域点亮时采集待测物图像；所述控制单元在相邻两次采集的待测物图像的高光区域有交叠时，舍弃第二次采集的所述待测物图像，直至选取至少三幅所述待测物图像作为待融合图像；并将各所述待融合图像融合为待测物缺陷检测图像，根据所述待测物缺陷检测图像识别所述待测物的缺陷信息，其中，各所述待融合图像的高光区域均不交叠。 2.根据权利要求1所述的缺陷检测装置，其特征在于，所述控制单元依次控制环形LED光源的各点亮区域的LED灯点亮包括：沿顺时针或者逆时针依次控制环形LED光源的各点亮区域的LED灯点亮。 3.根据权利要求1所述的缺陷检测装置，其特征在于，所述控制单元将各所述待融合图像融合为待测物缺陷检测图像，包括：获取各所述待融合图像相同位置像素点的光强值；确定各所述待融合图像相同位置像素点的光强值的中间光强值；将所述中间强度值确定为待测物缺陷检测图像的像素点光强值。 4.根据权利要求1所述的缺陷检测装置，其特征在于，所述控制单元根据所述待测物缺陷检测图像识别所述待测物的缺陷信息，包括：根据阈值分割法在所述待测物缺陷检测图像中识别所述待测物的缺陷信息。 5.根据权利要求1所述的缺陷检测装置，其特征在于，所述图像采集单元包括相机和物镜，所述相机和所述物镜连接，所述物镜位于所述环形LED光源远离所述待测物的一侧，所述相机位于所述物镜远离所述环形LED光源的一侧，所述相机与所述控制单元相连。 6.根据权利要求5所述的缺陷检测装置，其特征在于，所述相机为CCD工业相机。 7.一种基于权利要求1-6任一项所述的缺陷检测装置的缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：依次控制环形LED光源的各点亮区域的LED灯点亮；所述点亮区域包括至少一列所述LED灯；相邻两次点亮的所述点亮区域至少部分所述LED灯不同；获取所述图像采集单元在每次点亮区域点亮时采集的待测物图像；在相邻两次采集的待测物图像的高光区域有交叠时，舍弃第二次采集的所述待测物图像，直至选取至少三幅所述待测物图像作为待融合图像，其中，各所述待融合图像的高光区域均不交叠；将各所述待融合图像融合为待测物缺陷检测图像；根据所述待测物缺陷检测图像识别所述待测物的缺陷信息。 8.根据权利要求7所述的缺陷检测方法，其特征在于，依次控制环形LED光源的各点亮区域的LED灯点亮，包括：沿顺时针或者逆时针依次控制环形LED光源的各点亮区域的LED灯点亮。 9.根据权利要求7所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述将各所述待融合图像融合为待测物缺陷检测图像，包括：获取各所述待融合图像相同位置像素点的光强值；确定各所述待融合图像相同位置像素点的光强值的中间光强值；将所述中间强度值确定为待测物缺陷检测图像的像素点光强值。 10.根据权利要求7所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述待测物缺陷检测图像识别所述待测物的缺陷信息，包括：根据阈值分割法在所述待测物缺陷检测图像中识别所述待测物的缺陷信息。
所属类别：	发明专利