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原文传递红外反射和透射测量系统及方法

专利名称：	红外反射和透射测量系统及方法
摘要：	本发明公开了一种红外反射和透射测量系统及方法，本发明技术方案针对磁场调控物性的表征问题，将红外光谱学测量和磁场结合起来，可以实现磁场下的可变低温红外反射和透射测量，而且该测量系统进行反射和透射测量时，不需要改变光路，也不需要重新装载样品，对于即可以反射又可以透射红外光的样品，可以同时测量其反射和透射谱。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	安徽;34
申请人：	中国科学技术大学
发明人：	戚泽明;胡传圣;李承祥
专利状态：	有效
申请日期：	2019-07-08T00:00:00+0800
发布日期：	2019-09-27T00:00:00+0800
申请号：	CN201910610537.2
公开号：	CN110286100A
代理机构：	北京集佳知识产权代理有限公司
代理人：	张静
分类号：	G01N21/35(2014.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	230026 安徽省合肥市包河区金寨路96号
主权项：	1.一种红外反射和透射测量系统，其特征在于，所述测量系统包括：超导磁体室，所述超导磁体室具有相对的第一法兰口和第二法兰口，所述第一法兰口和所述第二法兰口之间具有用于放置所述待测样品，所述超导磁体室用于为所述待测样品提供磁场环境；反射谱测量装置，所述反射谱测量装置用于将红外光谱仪发射的红外光通过所述第一法兰口照射到所述待测样品上，通过所述第一法兰口获取所述待测样品反射的红外光，测量样品的红外反射谱信息；透射测量装置，所述透射测量装置用于通过所述第二法兰口获取所述待测样品透射的红外光，测量样品的红外透射谱信息。 2.根据权利要求1所述的测量系统，其特征在于，所述超导磁体室包括：磁场真空室，所述磁场真空室包括两个贯穿磁体的室温孔，在其中一个所述室温孔的两端分别设置有所述第一法兰口以及所述第二法兰口；；样品架，所述样品架用于装载所述待测样品。 3.根据权利要求2所述的测量系统，其特征在于，所述样品架包括：样品杆、样品托以及三维平移台；所述样品托固定在所述样品杆上，所述样品托用于放置所述待测样品；所述样品杆固定有所述样品托的一端用于通过另一个所述室温孔的一端置于所述磁场真空室内，并与所述磁场真空室内的所述三维平移台连接；所述三维平移台用于调节位于所述待测样品的位置。 4.根据权利要求3所述的测量系统，其特征在于，所述样品杆的另一端用于插入传输线，所述传输线背离所述样品杆的一端插入液氮罐或是液氦罐，以使得所述样品托处于设定的温度环境。 5.根据权利要求1所述的测量系统，其特征在于，所述反射谱测量装置包括：反射真空腔体，所述反射真空腔体具有用于连接所述红外光谱仪的第三法兰口以及用于和所述第一法兰口相对设置的第四法兰口；第一光路组件，所述第一光路组件用于通过所述第三法兰口获取红外光，依次通过所述第四法兰口和所述第一法兰口将红外光照射到所述待测样品上，并依次通过所述第一法兰口和所述第四法兰口获取所述待测样品反射的红外光，将获取的反射光传输至反射探测器。 6.根据权利要求5所述的测量系统，其特征在于，所述第一光路组件包括：第一光学镜组，所述第一光学镜组用于将通过所述第三法兰口入射的红外光传导至所述第四法兰口出射，以照射所述待测样品；第二光学镜组，所述第二光学镜组用于获取通过所述第四法兰口入射的红外光，将获取的红外光传输至所述反射探测器；所述反射探测器包括位于所述反射真空腔体内的第一反射探测器以及位于所述反射真空腔体外的第二反射探测器；其中，所述第二光学镜组能够使得红外光通过第一路径传输至所述第一反射探测器，或使得红外光通过第二路径以及位于所述反射真空腔体上的第五法兰口传输至所述第二反射探测器。 7.根据权利要求1所述的测量系统，其特征在于，所述透射测量装置包括：透射真空腔体，所述透射真空腔体具有用于和所述第二法兰口相对设置的第六法兰口；第二光路组件，所述第二光路组件用于依次通过所述第二法兰口以及所述第六法兰口获取所述待测样品透射的红外光，将获取的红外光传输至透射探测器。 8.根据权利要求7所述的测量系统，其特征在于，所述透射探测器包括：位于所述透射真空腔体内的第一透射探测器以及位于所述透射真空腔体外的第二透射探测器；所述第二光路组件包括：第三光学镜组，所述第三光学镜组能够使得红外光通过第三路径传输至所述第一透射探测器，或使得红外光通过第四路径以及位于所述透射真空腔体上的第七法兰口传输至所述第二透射探测器。 9.根据权利要求1-8任一项所述的测量系统，其特征在于，所述超导磁体室、所述反射谱测量装置以及所述透射谱测量装置分别具有独立控制真空度的真空腔室。 10.一种红外反射和透射测量方法，其特征在于，通过如权利要求1-9任一项所述的测量系统测量待测样品的反射谱信息和透射谱信息。
所属类别：	发明专利