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原文传递通过使用聚焦离子束以使窗帘效应最小化的岩石样品制备方法

专利名称：	通过使用聚焦离子束以使窗帘效应最小化的岩石样品制备方法
摘要：	本发明提供了一种用于对来自油气储层的岩石样品进行制备和成像的方法。可使用岩心采样工具插入延伸至油气储层的井眼中，以获得储层岩石的样品，例如来自岩心的样品。可在储层岩石样品的表面上沉积光刻胶以形成均匀的层。可使用聚焦离子束(FIB)对涂覆有光刻胶的储层岩石样品的表面进行成像。光刻胶可保护岩石的孔隙和其他表面特征免受FIB离子束的损坏或注入，从而使所得的图像中的窗帘效应最小化。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	沙特阿拉伯;SA
申请人：	沙特阿拉伯石油公司
发明人：	D·K·车;苏丹·埃内兹;穆罕默德·阿勒-奥泰比;阿里·阿卜达拉·阿勒-优素福
专利状态：	有效
申请日期：	2018-02-15T00:00:00+0800
发布日期：	2019-10-08T00:00:00+0800
申请号：	CN201880011911.0
公开号：	CN110312929A
代理机构：	北京天昊联合知识产权代理有限公司
代理人：	张珂珂;金小芳
分类号：	G01N23/2255(2018.01);G;G01;G01N;G01N23
申请人地址：	沙特阿拉伯宰赫兰
主权项：	1.一种对来自油气储层的岩石样品进行成像的方法，包括：在所述岩石样品的表面上沉积光刻胶；对所述岩石样品的涂覆有所述光刻胶的表面施加聚焦离子束(FIB)，以生成所述岩石样品的数字图像。 2.根据权利要求1所述的方法，包括由来自从延伸至油气储层的井眼获得的岩心样品制备所述岩石样品。 3.根据前述权利要求中任一项所述的方法，包括从所述岩石样品的涂覆有所述光刻胶的表面除去所述光刻胶。 4.根据权利要求3所述的方法，其中除去所述光刻胶包括将具有所述光刻胶的岩石样品暴露于电子束。 5.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中所述FIB包括镓离子束。 6.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中对所述岩石样品的涂覆有所述光刻胶的表面施加聚焦离子束(FIB)包括通过所述聚焦离子束对所述岩石样品的涂覆有所述光刻胶的表面的层进行铣削。 7.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中在所述岩石样品的表面上沉积所述光刻胶包括在所述岩石样品的表面上旋涂所述光刻胶。 8.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中所述FIB是通过聚焦离子束扫描电子显微镜(FIB-SEM)系统产生的。 9.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中所述数字图像包括二维(2D)图像或三维(3D)图像。 10.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中所述数字图像包括由所述岩石样品的两个或以上的二维(2D)数字图像生成的三维(3D)数字图像。 11.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中所述光刻胶包括SU-8光刻胶。 12.根据前述权利要求中任一项所述的方法，包括在沉积所述光刻胶之后在一定温度下使所述光刻胶固化。 13.一种系统，包括：用于涂覆岩石样品的表面的装置，所述岩石样品具有沉积在所述表面上的光刻胶；聚焦离子束(FIB)系统，其被配置为接收具有所述光刻胶的所述岩石样品并生成所述岩石样品的数字图像。 14.根据权利要求13所述的系统，其中所述FIB系统包括镓离子束。 15.根据权利要求13或14所述的系统，其中所述FIB系统包括聚焦离子束扫描电子显微镜(FIB-SEM)系统。 16.根据权利要求13、14或15所述的系统，其中所述光刻胶包括SU-8光刻胶。 17.一种对来自油气储层的岩石进行分析的方法，包括：获得表面上沉积有光刻胶的岩石样品；生成具有光刻胶的岩石样品的数字图像，其中使用聚焦离子束(FIB)生成所述数字图像；以及分析所述数字图像以确定所述岩石样品的性质。 18.根据权利要求17所述的方法，其中所述数字图像为三维(3D)图像，并且分析所述数字图像以确定所述岩石样品的性质包括分析所述数字图像以确定所述岩石样品的孔隙率。 19.根据权利要求17或18所述的方法，包括在所述岩石样品的表面上沉积光刻胶层。 20.根据权利要求17、18或19所述的方法，其中所述光刻胶包括SU-8光刻胶。
所属类别：	发明专利