专利名称: |
双能探测方法与装置 |
摘要: |
本公开提供一种双能探测方法与装置。双能探测方法装置包括:X射线源,用于向被测物体发送X射线束;闪烁探测器,工作于积分模式,用于接收穿过所述被测物体的所述X射线束以生成第一电信号;切伦科夫探测器,位于所述闪烁探测器后方,工作于计数模式,用于接收穿过所述被测物体的所述X射线束以生成第二电信号;处理器,用于根据所述第一电信号以及所述第二电信号输出所述被测物体的图像、体积以及材质信息本公开提供的双能探测方法可以获得更清晰并包含更多信息的被测物体图像。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
同方威视技术股份有限公司 |
发明人: |
李树伟;张清军;邹湘;赵博震;王钧效;朱维彬;王永强;张文剑 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2018-03-28T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-10-15T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810262091.4 |
公开号: |
CN110333252A |
代理机构: |
北京律智知识产权代理有限公司 |
代理人: |
阚梓瑄;王卫忠 |
分类号: |
G01N23/04(2018.01);G;G01;G01N;G01N23 |
申请人地址: |
100084 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层 |
主权项: |
1.一种双能探测装置,其特征在于,包括: X射线源,用于向被测物体发送第一X射线束; 闪烁探测器,工作于积分模式,用于接收穿过所述被测物体的第二X射线束以生成第一电信号; 切伦科夫探测器,位于所述闪烁探测器后方,工作于计数模式,用于接收穿过所述闪烁探测器的第三X射线束以生成第二电信号; 处理器,用于根据所述第一电信号以及所述第二电信号输出所述被测物体的图像、厚度以及材质信息。 2.如权利要求1所述的双能探测装置,其特征在于,所述闪烁探测器包括: 闪烁体; 光敏器件; 数据读出电路,工作在积分模式,用于输出包括所述被测物体的图像信息的所述第一电信号。 3.如权利要求1所述的双能探测装置,其特征在于,所述切伦科夫探测器包括: 切伦科夫辐射体; 光电倍增器件; 快读出电路,工作在计数模式,用于输出包括所述被测物体的图像、厚度以及材质信息的所述第二电信号。 4.如权利要求1~3任一项所述的双能探测装置,其特征在于,所述处理器基于所述第一电信号以及所述第二电信号获取所述被测物体的图像,基于所述第二电信号获取所述被测物体的厚度以及材质信息。 5.如权利要求3所述的双能探测装置,其特征在于,所述快读出电路设置为:接收所述第三X射线束并获取所述第三X射线束的能谱,获取该能谱第一预设区间的第一积分以及该能谱第二预设区间的第二积分,根据所述第一积分以及所述第二积分获取所述被测物体的厚度以及材质信息。 6.如权利要求3所述的双能探测装置,其特征在于,所述光电倍增器件包括光电倍增管、硅光电倍增管。 7.一种双能探测方法,其特征在于,包括: 接收工作于积分模式的闪烁探测器基于第二X射线束生成的第一电信号,所述第二X射线束由第一X射线束穿过被测物体而形成; 接收工作于计数模式的切伦科夫探测器基于第三X射线束生成的第二电信号,所述切伦科夫探测器位于所述闪烁探测器后方,所述第三X射线束由所述第二X射线束穿过所述闪烁探测器而形成; 根据所述第一电信号以及所述第二电信号获取所述被测物体的图像、厚度以及材质信息。 8.如权利要求7所述的双能探测方法,其特征在于,所述第一电信号包括所述被测物体的图像信息,所述第二电信号包括所述被测物体的图像、厚度以及材质信息。 9.如权利要求7或8所述的双能探测方法,其特征在于,所述根据所述第一电信号以及所述第二电信号获取所述被测物体的图像、厚度以及材质信息包括: 基于所述第一电信号以及所述第二电信号获取所述被测物体的图像信息; 基于所述第二电信号获取所述被测物体的厚度以及材质信息。 10.如权利要求9所述的双能探测方法,其特征在于,所述基于所述第二电信号获取所述被测物体的厚度以及材质信息包括: 根据所述第二电信号获取所述第三X射线束的能谱; 获取该能谱第一预设区间的第一积分以及该能谱第二预设区间的第二积分; 根据所述第一积分以及所述第二积分获取所述被测物体的厚度以及材质信息。 11.一种双能探测装置,其特征在于,包括: 第一电信号接收模块,设置为接收工作于积分模式的闪烁探测器基于第二X射线束生成的第一电信号,所述第二X射线束由第一X射线束穿过被测物体而形成; 第二电信号接收模块,设置为接收工作于计数模式的切伦科夫探测器基于第三X射线束生成的第二电信号,所述切伦科夫探测器位于所述闪烁探测器后方,所述第三X射线束由所述第二X射线束穿过所述闪烁探测器而形成; 双信号处理模块,设置为根据所述第一电信号以及所述第二电信号获取所述被测物体的图像、厚度以及材质信息。 12.一种电子设备,其特征在于,包括: 存储器;以及 耦合到所属存储器的处理器,所述处理器被配置为基于存储在所述存储器中的指令,执行如权利要求7-10任一项所述的方法。 13.一种计算机可读存储介质,其上存储有程序,该程序被处理器执行时实现如权利要求7-10任意一项所述的双能探测方法。 |
所属类别: |
发明专利 |