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原文传递磷烯晶向的识别方法、装置及电子设备

专利名称：	磷烯晶向的识别方法、装置及电子设备
摘要：	本申请提供了一种磷烯晶向的识别方法，该方法包括：获取待识别磷烯的目标特征峰的拉曼散射光谱信息；其中，拉曼散射光谱信息为在拉曼系统散射光路无检偏模式下，在不同入射光偏振方向时采集的目标特征峰的原始拉曼散射光谱信息；从目标特征峰的拉曼散射光谱信息中，提取出目标特征峰对应的拉曼强度数据；基于预设的目标特征峰对应的拉曼散射强度公式，对目标特征峰对应的拉曼强度数据进行拟合，得到待识别磷烯的晶向所在角度。本申请能够在拉曼系统散射光路无检偏模式下，实现对磷烯的晶向识别。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	天津;12
申请人：	天津大学
发明人：	仇巍;李如冰;亢一澜;曲传咏;张茜
专利状态：	有效
申请日期：	2019-07-15T00:00:00+0800
发布日期：	2019-10-15T00:00:00+0800
申请号：	CN201910635720.8
公开号：	CN110333220A
代理机构：	北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人：	杨奇松
分类号：	G01N21/65(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	300000 天津市南开区卫津路92号
主权项：	1.一种磷烯晶向的识别方法，其特征在于，所述方法包括：获取待识别磷烯的目标特征峰的拉曼散射光谱信息；其中，所述拉曼散射光谱信息为在拉曼系统散射光路无检偏模式下，在不同入射光偏振方向时采集的目标特征峰的原始拉曼散射光谱信息；从所述目标特征峰的拉曼散射光谱信息中，提取出所述目标特征峰对应的拉曼强度数据；基于预设的所述目标特征峰对应的拉曼散射强度公式，对所述目标特征峰对应的拉曼强度数据进行拟合，得到所述待识别磷烯的晶向所在角度。 2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，当所述目标特征峰为B2g特征峰时，基于预设的所述目标特征峰对应的拉曼散射强度公式，对所述目标特征峰对应的拉曼强度数据进行拟合，得到所述待识别磷烯的晶向所在角度的步骤，包括：利用所述B2g特征峰对应的第一拉曼散射强度公式(1)，拟合所述B2g特征峰对应的拉曼强度数据，得到所述待识别磷烯的第一晶向所在角度；其中，代表B2g特征峰在无检偏模式时的拉曼散射强度；Γ、Λ、Ψ代表磷烯拉曼散射特征的常数参量；θ为磷烯的锯齿形ZZ晶向相对水平方向X轴的夹角，也是所述待识别磷烯的第一晶向所在角度，为入射光相对水平X轴的偏振角度。 3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，当所述目标特征峰为Ag特征峰的第一子峰Ag1峰或者所述Ag特征峰的第二子峰Ag2峰时，基于预设的所述目标特征峰对应的拉曼散射强度公式，对所述目标特征峰对应的拉曼强度数据进行拟合，得到所述待识别磷烯的晶向所在角度的步骤，包括：利用所述Ag特征峰的第一子峰Ag1峰或者所述Ag特征峰的第二子峰Ag2峰对应的第二拉曼散射强度公式(2)，拟合所述Ag特征峰的第一子峰Ag1峰或者所述Ag特征峰的第二子峰Ag2峰对应的拉曼强度数据，得到所述待识别磷烯的第二晶向所在角度、第三晶向所在角度；式中，代表无检偏模式时Ag特征峰的拉曼散射强度；Γ、Λ代表磷烯拉曼散射特征的常数参量；θ为磷烯的锯齿形ZZ晶向相对水平方向X轴的夹角，也是所述待识别磷烯的第二晶向所在角度、第三晶向所在角度，为入射光相对水平X轴的偏振角度。 4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：求取所述第二晶向所在角度和所述第三晶向所在角度的平均值；将所述平均值作为所述待识别磷烯的第四晶向所在角度。 5.一种磷烯晶向的识别装置，其特征在于，所述装置包括：信息获取模块，用于获取待识别磷烯的目标特征峰的拉曼散射光谱信息；其中，所述拉曼散射光谱信息为在拉曼系统散射光路无检偏模式下，在不同入射光偏振方向时采集的目标特征峰的原始拉曼散射光谱信息；数据提取模块，用于从所述目标特征峰的拉曼散射光谱信息中，提取出所述目标特征峰对应的拉曼强度数据；拟合模块，用于基于预设的所述目标特征峰对应的拉曼散射强度公式，对所述目标特征峰对应的拉曼强度数据进行拟合，得到所述待识别磷烯的晶向所在角度。 6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，当所述目标特征峰为B2g特征峰时，所述拟合模块还用于：利用所述B2g特征峰对应的第一拉曼散射强度公式(1)，拟合所述B2g特征峰对应的拉曼强度数据，得到所述待识别磷烯的第一晶向所在角度；其中，代表B2g特征峰在无检偏模式时的拉曼散射强度；Γ、Λ、Ψ代表磷烯拉曼散射特征的常数参量；θ为磷烯的锯齿形ZZ晶向相对水平方向X轴的夹角，也是所述待识别磷烯的第一晶向所在角度，为入射光相对水平X轴的偏振角度。 7.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，当所述目标特征峰为Ag特征峰的第一子峰Ag1峰或者所述Ag特征峰的第二子峰Ag2峰时，所述拟合模块还用于：利用所述Ag特征峰的第一子峰Ag1峰或者所述Ag特征峰的第二子峰Ag2峰对应的第二拉曼散射强度公式(2)，拟合所述Ag特征峰的第一子峰Ag1峰或者所述Ag特征峰的第二子峰Ag2峰对应的拉曼强度数据，得到所述待识别磷烯的第二晶向所在角度、第三晶向所在角度；式中，代表无检偏模式时Ag特征峰的拉曼散射强度；Γ、Λ代表磷烯拉曼散射特征的常数参量；θ为磷烯的锯齿形ZZ晶向相对水平方向X轴的夹角，也是所述待识别磷烯的第二晶向所在角度、第三晶向所在角度，为入射光相对水平X轴的偏振角度。 8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：晶向角度确定模块，用于：求取所述第二晶向所在角度和所述第三晶向所在角度的平均值；将所述平均值作为所述待识别磷烯的第四晶向所在角度。 9.一种电子设备，其特征在于，包括：处理器、存储介质和总线，所述存储介质存储有所述处理器可执行的机器可读指令，当电子设备运行时，所述处理器与所述存储介质之间通过总线通信，所述处理器执行所述机器可读指令，以执行时执行如权利要求1至4任一所述的磷烯晶向的识别方法的步骤。 10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，该计算机可读存储介质上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器运行时执行如权利要求1至4任一所述的磷烯晶向的识别方法的步骤。
所属类别：	发明专利