专利名称: |
一种多层膜X射线波带片的制备方法 |
摘要: |
本发明公开了一种多层膜X射线波带片的制备方法,具体方法为:将丝状样品垂直固定于样品托侧面;运用FIB切割,只切割丝状样品的多层膜,垂直从上向下将可见部分多层膜切成指定厚度;将样品切割部分用液态胶浸润;通过旋转将未切割的多层膜部分朝上,并将切割好的位置用液态胶接触固定一铜箔,再运用FIB将保留的多层膜两边的多层膜以及中心丝完全切断;利用机械手进行上述步骤切割好的波带片转移;运用FIB沉积技术固定波带片于载网的特定位置;切除机械手,对波带片进行抛光,获得所需制备的波带片;本发明可以实现超薄波带片的制备,可以保护波带片的多层膜,因为有液态胶的保护所以加强了超薄波带片的自支撑能力。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
中国科学院电工研究所 |
发明人: |
孔祥东;姚广宇;李艳丽;董增雅;张炜;韩立 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-09-09T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-11-12T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201910857821.X |
公开号: |
CN110441115A |
代理机构: |
北京高沃律师事务所 |
代理人: |
张德才 |
分类号: |
G01N1/28(2006.01);G;G01;G01N;G01N1 |
申请人地址: |
100190北京市海淀区中关村北二条6号中科院电工所 |
主权项: |
1.一种多层膜X射线波带片的制备方法,其特征在于,包括以下步骤: (1)、将丝状样品垂直固定于样品托侧面; (2)、运用FIB切割,只切割丝状样品的多层膜,垂直从上向下将可见部分多层膜切成指定厚度; (3)、将样品切割部分用液态胶浸润; (4)、通过旋转将步骤2中未切割的多层膜部分朝上,并将步骤2中切割好的位置用液态胶接触固定一铜箔,再运用FIB将步骤2中保留的多层膜两边的多层膜以及中心丝完全切断; (5)、利用机械手进行上述步骤切割好的波带片转移; (6)、运用FIB沉积技术固定波带片于载网的特定位置; (7)、切除机械手,对波带片进行抛光,获得所需制备的波带片。 2.根据权利要求1所述的多层膜X射线波带片的制备方法,其特征在于:所述样品托为正方体结构,所述丝状样品通过液态胶粘结到样品托侧面,固定后的所述丝状样品水平悬空。 3.根据权利要求1所述的多层膜X射线波带片的制备方法,其特征在于:通过机械旋转将所述样品脱旋转180°,将步骤2中未切割的多层膜部分朝上。 4.根据权利要求1所述的多层膜X射线波带片的制备方法,其特征在于:运用FIB切断所述机械手。 5.根据权利要求1所述的多层膜X射线波带片的制备方法,其特征在于:波带片运用FIB进行抛光。 |
所属类别: |
发明专利 |