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原文传递用于荧光X射线分析装置的夹具

专利名称：	用于荧光X射线分析装置的夹具
摘要：	本实用新型提供一种无需在试料架与用于荧光X射线分析装置的夹具之间转移试料的用于荧光X射线分析装置的夹具。用于荧光X射线分析装置的夹具，为与荧光X射线分析装置共用在中央处具有供试料配置的凹部或者孔的X射线衍射装置的试料架的夹具，具备：基座部件，其具有与所述试料架的下表面抵接的第一上表面、和以在与所述第一上表面之间具有高低差的方式而形成的第二上表面；以及环，其具有所述试料架的外侧侧面以及设置有所述高低差的区域的外侧侧面与内侧侧面抵接的圆筒部、和被设置在所述圆筒部的下端部并与所述第二上表面抵接的法兰，并且在与所述试料架以及所述基座部件之间夹入对所述试料的表面进行覆盖的薄膜。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	日本;JP
申请人：	株式会社理学
发明人：	井上稔
专利状态：	有效
申请日期：	2018-12-18T00:00:00+0800
发布日期：	2019-11-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201822128961.7
公开号：	CN209570528U
代理机构：	北京瑞盟知识产权代理有限公司
代理人：	刘昕;刘蓉
分类号：	G01N23/223(2006.01);G;G01;G01N;G01N23
申请人地址：	日本国东京都昭岛市松原町3丁目9番12号
主权项：	1.一种用于荧光X射线分析装置的夹具，其为与荧光X射线分析装置共用在中央处具有供试料配置的凹部或者孔的X射线衍射装置的试料架的夹具，所述用于荧光X射线分析装置的夹具的特征在于，具备：基座部件，其具有与所述试料架的下表面抵接的第一上表面、和以在与所述第一上表面之间具有高低差的方式而形成的第二上表面；以及环，其具有所述试料架的外侧侧面以及设置有所述高低差的区域的外侧侧面与内侧侧面抵接的圆筒部、和被设置在所述圆筒部的下端部并与所述第二上表面抵接的法兰，并且在与所述试料架以及所述基座部件之间夹入对所述试料的表面进行覆盖的薄膜。 2.根据权利要求1所述的用于荧光X射线分析装置的夹具，其特征在于，所述试料架以及所述基座部件在互相抵接的部分，分别被配置有对彼此的位置进行固定的固定部。 3.根据权利要求2所述的用于荧光X射线分析装置的夹具，其特征在于，所述固定部为磁铁。 4.根据权利要求1至3中任一项所述的用于荧光X射线分析装置的夹具，其特征在于，所述环具有与所述圆筒部的内侧以及所述法兰的下表面连结的内槽。
所属类别：	实用新型