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原文传递对象物判定装置、程序、对象物判定方法和半导体装置

专利名称：	对象物判定装置、程序、对象物判定方法和半导体装置
摘要：	本发明涉及对象物判定装置、程序、对象物判定方法和半导体装置。在不接收示出第一信号和第二信号的发送的定时的信号的情况下判定对象物的性质。根据由电极202经由土以重叠的状态接收到的频率f1、f2的第一正弦波信号和第二正弦波信号，求取与各个的振幅对应的功率值的差ΔP1（或ΔP2）和与相位对应的角度的差Δθ1（或Δθ2），基于求取的功率差和角度差以及功率差和角度差与土的多个性质L1、L2的关系来判定土的性质L1。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	日本;JP
申请人：	拉碧斯半导体株式会社
发明人：	赤堀博次
专利状态：	有效
申请日期：	2019-04-19T00:00:00+0800
发布日期：	2019-11-05T00:00:00+0800
申请号：	CN201910316894.8
公开号：	CN110412075A
代理机构：	中国专利代理(香港)有限公司
代理人：	王岳;闫小龙
分类号：	G01N27/00(2006.01);G;G01;G01N;G01N27
申请人地址：	日本神奈川县横滨市
主权项：	1.一种对象物判定装置，其中，具备：计算部，根据由接收部经由对象物以重叠的状态或分别接收到的、第一频率的第一信号和与所述第一频率不同的第二频率的第二信号，计算表示所述第一信号和所述第二信号的各自的特征的、第一特征量和与所述第一特征量不同的第二特征量；以及判定部，基于所述第一信号和所述第二信号的各自的所述第一特征量的不同和所述第二特征量的不同、及所述第一特征量的多个不同和所述第二特征量的多个不同与对象物的多个性质的关系，判定所述对象物的性质。 2.根据权利要求1所述的对象物判定装置，其特征在于，所述第一特征量的不同和所述第二特征量的不同是差。 3.根据权利要求1或权利要求2所述的对象物判定装置，其中，所述第一特征量是所述第一信号和所述第二信号的振幅或与振幅相关联的物理量，所述第二特征量是所述第一信号和所述第二信号的相位或与相位相关联的物理量。 4.根据权利要求1~权利要求3的任一项所述的对象物判定装置，其中，所述计算部根据在多个第一期间的各个内接收到的所述第一信号和所述第二信号的各个来计算所计算出的所述第一特征量的平均值和所述第二特征量的平均值，或者，所述计算部将所述多个第一期间的整体作为第二期间，根据在所述第二期间内接收到的所述第一信号和所述第二信号的各个来计算所述第一特征量的平均值和所述第二特征量。 5.一种对象物判定方法，其中，具备：根据由接收部经由对象物以重叠的状态或分别接收到的、第一频率的第一信号和与所述第一频率不同的第二频率的第二信号来计算表示所述第一信号和所述第二信号的各自的特征的、第一特征量和与所述第一特征量不同的第二特征量的步骤；以及基于所述第一信号和所述第二信号的各自的所述第一特征量的不同和所述第二特征量的不同、及所述第一特征量的多个不同和所述第二特征量的多个不同与对象物的多个性质的关系来判定所述对象物的性质的步骤。 6.一种程序，其中，用于使计算机执行根据权利要求5所述的对象物判定方法。 7.一种对象物判定装置，其中，具备：存储装置，存储有用于使处理装置执行根据权利要求5所述的对象物判定方法的程序；以及处理装置，执行在所述存储装置中存储的所述程序。 8.一种半导体装置，其中，具备：计算部，根据由接收部经由对象物以重叠的状态或分别接收到的、第一频率的第一信号和与所述第一频率不同的第二频率的第二信号，计算表示所述第一信号和所述第二信号的各自的特征的、第一特征量和与所述第一特征量不同的第二特征量；以及判定部，基于所述第一信号和所述第二信号的各自的所述第一特征量的不同和所述第二特征量的不同、及所述第一特征量的多个不同和所述第二特征量的多个不同与对象物的多个性质的关系，判定所述对象物的性质。
所属类别：	发明专利