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原文传递一种定量评定双重晶粒度的方法

专利名称：	一种定量评定双重晶粒度的方法
摘要：	本发明涉及一种定量评定双重晶粒度的方法，该方法选取有双重晶粒的试样进行分析，并按照电子背散射衍射的要求进行制样，随机选取多个区域进行扫描，得到所有晶粒的数据信息，对晶粒尺寸的数据进行统计分析并分类评定。对于双峰状态的双重晶粒评定，先确定细晶区与粗晶区的界限，再根据提出的公式定量评定出细晶区和粗晶区的晶粒度级别，并根据数据计算出各自所占的面积百分比。此种方法评定的晶粒度级别和面积百分比结果准确，完全符合晶粒度评定的要求。尤其可解决传统的金相法无法对有织构的试样进行腐蚀评级的问题。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	江苏;32
申请人：	江苏省沙钢钢铁研究院有限公司
发明人：	吴园园;张珂;金传伟;关云
专利状态：	有效
申请日期：	2019-07-30T00:00:00+0800
发布日期：	2019-11-26T00:00:00+0800
申请号：	CN201910697220.7
公开号：	CN110501364A
分类号：	G01N23/203(2006.01);G;G01;G01N;G01N23
申请人地址：	215625 江苏省苏州市张家港市锦丰镇永新路沙钢钢铁研究院
主权项：	1.一种定量评定双重晶粒度的方法，其特征在于，包括以下步骤： (1)将待测试样进行研磨抛光，以满足电子背散射衍射分析要求为标准，无需进行腐蚀； (2)将制备好的试样进行电子背散射衍射分析，随机选取多个区域进行扫描，得到所有晶粒的数据信息； (3)对所有区域内数据点进行统计分析，得到细晶区和粗晶区的临界平均等积圆直径； (4)背散射衍射计算晶粒度级别其中：为平均晶粒面积，单位为mm2；M为分析倍数；T为与分析倍数有关的常数；根据公式分别计算出细晶区和粗晶区的晶粒度级别，并根据细晶区与粗晶区的各自面积计算各自所占的面积百分比。 2.根据权利要求1所述的定量评定双重晶粒度的方法，其特征在于，所述电子背散射衍射分析时步径设置为细晶区晶粒的平均等积圆直径的1/10。 3.根据权利要求1所述的定量评定双重晶粒度的方法，其特征在于，所述步骤(3)中，去除晶粒内数据点数小于10的干扰晶粒，对余下晶粒绘制出晶粒平均等积圆直径和晶粒所占面积百分比的柱状图，双峰态交界处谷底为细晶区和粗晶区的平均等积圆直径分界点，即临界平均等积圆直径。 4.根据权利要求1-3中任一权利要求所述的定量评定双重晶粒度的方法，其特征在于，所述方法适用于有织构的样品进行双重晶粒度定量评定。
所属类别：	发明专利