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一种漏斗形单纳米颗粒种类检测装置
| 专利名称： | 一种漏斗形单纳米颗粒种类检测装置 |
| 摘要： | 本实用新型属于纳流控芯片领域，具体公开了一种漏斗形单纳米颗粒种类检测装置，包括接正电压的电极、漏斗形入口通道、直检测通道、矩形出口通道、接零电压的电极、电流表、外接电源；该装置接正电压的电极与漏斗形入口通道相连、漏斗形入口通道与直检测通道相连、直检测通道与矩形出口通道相连、矩形出口通道与接零电压的电极相连、接零电压的电极与电流表串联后接外接电源，上述结构依次顺次组合连接。本实用新型的优势在于：漏斗形单纳米颗粒种类检测装置整体尺寸小，结构简单，不需要设计具有复杂结构的纳流体通道，在单个待检测颗粒流过直检测通道时通过电流表电流变化量来确认通过颗粒种类，实现颗粒快速种类检测。 |
| 专利类型： | 实用新型 |
| 国家地区组织代码： | 海南;46 |
| 申请人： | 海南大学 |
| 发明人： | 黄志维;葛鉴;邓鲁豫;吉祥;周腾;史留勇;袁成宇;张先满 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2018-11-20T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-11-19T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201821914257.8 |
| 公开号： | CN209656611U |
| 分类号： | G01N27/00(2006.01);G;G01;G01N;G01N27 |
| 申请人地址： | 570228 海南省海口市美兰区人民大道58号海南大学 |
| 主权项： | 1.一种漏斗形单纳米颗粒种类检测装置，其特征在于，包括接正电压的电极（1）、漏斗形入口通道（2）、直检测通道（3）、矩形出口通道（4）、接零电压的电极（5）、电流表（7）、外接电源（6）；所述装置接正电压的电极（1）与漏斗形入口通道（2）相连、漏斗形入口通道（2）与直检测通道（3）相连、直检测通道（3）与矩形出口通道（4）相连、矩形出口通道（4）与接零电压的电极（5）相连、接零电压的电极（5）与电流表（7）串联后接外接电源（6），上述结构依次顺次组合连接。 2.根据权利要求1所述的漏斗形单纳米颗粒种类检测装置，其特征在于，所述的漏斗形单纳米颗粒种类检测装置总长度为95μm，总宽度为50μm；漏斗形入口通道（2）上半部分长度L1为23μm、直检测通道（3）长度L2为20μm、矩形出口通道（4）长度L3为37μm；矩形出口通道（4）中长度W1为22μm；漏斗形入口通道（2）出口端连接直检测通道（3）入口端，在两连接处进行倒圆角处理；直检测通道（3）出口端连接矩形出口通道（4）入口端，在两连接处进行倒圆角处理。 3.根据权利要求1所述的漏斗形单纳米颗粒种类检测装置，其特征在于，所述的漏斗形入口通道（2）上半部为矩形，同时左右对称内壁不带有表面电荷的结构；下半部为倒梯形结构，左右对称内壁带有表面电荷。 4.根据权利要求2所述的漏斗形单纳米颗粒种类检测装置，其特征在于，漏斗形入口通道（2）入口端处有一个接正电压的电极（1）；矩形出口通道（4）出口端处有一个接零电压的电极（5）。 5.根据权利要求1所述的漏斗形单纳米颗粒种类检测装置，其特征在于，所述的一个直检测通道（3）为一个内壁不带有表面电荷的矩形结构。 |
| 所属类别： | 实用新型 |
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