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一种锥形单纳米颗粒种类检测装置
| 专利名称： | 一种锥形单纳米颗粒种类检测装置 |
| 摘要： | 本实用新型属于纳米流控芯片领域，具体公开了一种锥形单纳米颗粒种类检测装置，包括依次顺次连接的接正电压的电极（1）、矩形入口通道（2）、锥形检测通道（3）、矩形出口通道（4）、接零电压的电极（5）、电流表（6）、外接电源（7）组成；所述的矩形出口通道（4）为表面不带有电荷的矩形结构，长度和宽度大小与矩形入口通道（2）相同；在矩形出口通道（4）下边界处有接零电压的电极（5），在矩形入口通道（2）上边界处有接正电压的电极（1）。本实用新型的优势在于：锥形单纳米颗粒种类检测装置整体结构简单，尺寸小，只需少量检测颗粒样本，便可实施颗粒种类检测。单个待检测颗粒流过锥形检测通道时读取电流表电流量并与标定电流量进行比对，便可确认通过颗粒种类，高效实现颗粒种类检测。 |
| 专利类型： | 实用新型 |
| 国家地区组织代码： | 海南;46 |
| 申请人： | 海南大学 |
| 发明人： | 黄志维;葛鉴;邓鲁豫;彭堙寅;李创;甄海生;周腾;史留勇 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2018-11-30T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-12-31T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201821999810.2 |
| 公开号： | CN209878649U |
| 分类号： | G01N27/00(2006.01);G;G01;G01N;G01N27 |
| 申请人地址： | 570228 海南省海口市美兰区人民大道58号海南大学 |
| 主权项： | 1.一种锥形单纳米颗粒种类检测装置，其特征在于，包括依次顺次连接的接正电压的电极（1）、矩形入口通道（2）、锥形检测通道（3）、矩形出口通道（4）、接零电压的电极（5）、电流表（6）、外接电源（7）；所述的矩形出口通道（4）为表面不带有电荷的矩形结构，长度和宽度大小与矩形入口通道（2）相同；在矩形出口通道（4）下边界处有接零电压的电极（5）；在矩形入口通道（2）上边界处有接正电压的电极（1）。 2.根据权利要求1所述的锥形单纳米颗粒种类检测装置，其特征在于所述的锥形单纳米颗粒种类检测装置总长度为95μm、总宽度为50μm，左右对称结构。 3.根据权利要求1所述的锥形单纳米颗粒种类检测装置，其特征在于所述的矩形入口通道（2）为表面不带有电荷的矩形结构，L1长度为30μm，W宽度为50μm；下接锥形检测通道（3）。 4.根据权利要求1所述的锥形单纳米颗粒种类检测装置，其特征在于所述的锥形检测通道（3）为表面带有电荷的锥形结构，入口宽W1为8μm，出口宽W2为20μm，长度L2为35μm；锥形检测通道（3）上接矩形入口通道（2）下接矩形出口通道（4）。 |
| 所属类别： | 实用新型 |
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