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用于高速分析多指数衰减函数类型实验数据的荧光寿命测量装置及其测量方法
| 专利名称： | 用于高速分析多指数衰减函数类型实验数据的荧光寿命测量装置及其测量方法 |
| 摘要： | 根据本发明实施例的荧光寿命测量装置包括：照射光发生单元，其用于产生照射光；荧光光子检测单元，其用于收集通过用照射光照射包含荧光分子的至少一个样本而产生的荧光光子；转换单元，其用于放大荧光光子，以将荧光光子转换成荧光信号；以及测量单元，其用于通过使用由模拟函数乘以荧光信号的函数的积分值而获得的函数来分析所述荧光信号的函数的数据。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 韩国;KR |
| 申请人： | 延世大学校产学协力团 |
| 发明人： | 金德泳;黄元商;金东垠;姜珉求 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2017-11-17T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-11-15T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201780088945.5 |
| 公开号： | CN110462381A |
| 代理机构： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 |
| 代理人： | 顾红霞;杨利剑 |
| 分类号： | G01N21/64(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 韩国首尔 |
| 主权项： | 1.一种荧光寿命测量装置，包括： 照射光发生器，其构造为产生照射光； 荧光光子检测器，其构造为用所述照射光照射包含荧光分子的至少一个或多个样本，并收集由照射产生的荧光光子； 转换器，其构造为放大所述荧光光子，并将放大的荧光光子转换成荧光信号；以及 测量器，其构造为通过使用由一个值乘以模拟函数而获得的函数来分析所述荧光信号的函数的数据，所述一个值通过对所述荧光信号的函数进行积分而获得， 其中，通过将所述荧光信号的函数定义为I(t)，使用以下等式计算I(t)： 2.根据权利要求1所述的装置，其中，将通过对I(t)进行积分得到的值定义为f(t)，f(t)被归一化为1，使用以下等式计算： 其中， 3.根据权利要求2所述的装置，其中，通过将所述模拟函数定义为指数函数g(t)，并且通过将对I(t)进行积分获得的值乘以所述模拟函数g(t)而获得的值由以下等式表示： 4.一种荧光寿命测量方法，包括： 产生照射光； 用所述照射光照射至少一个或多个样本，并收集由照射产生的荧光光子； 将所述荧光光子转换成荧光信号；以及 通过使用由一个值乘以模拟函数而获得的函数来分析所述荧光信号的函数I(t)的数据进行测量，所述一个值通过对所述荧光信号的函数I(t)进行积分而获得， 其中，使用以下等式计算所述荧光信号的函数I(t)： 5.根据权利要求4所述的方法，其中，将通过对I(t)进行积分得到的值定义为f(t)，f(t)被归一化为1，使用以下等式计算： 其中， 6.根据权利要求5所述的方法，其中，通过将所述模拟函数定义为指数函数g(t)，并且通过将对I(t)进行积分获得的值乘以所述模拟函数g(t)而获得的值由以下等式表示： |
| 所属类别： | 发明专利 |
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