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用ICP-AES准确测量硅青铜中杂质元素As、Sb含量的方法
| 专利名称： | 用ICP-AES准确测量硅青铜中杂质元素As、Sb含量的方法 |
| 摘要： | 用ICP‑AES准确测量硅青铜中杂质元素As、Sb含量的方法，涉及硅青铜中元素含量测量技术领域。本发明的目的是要解决现有技术中ICP‑AES仪器对于短波元素灵敏度较低，无法准确计算出硅青铜中杂质元素As、Sb含量的问题。方法：对光室进行紫外驱气，将分别含有As、Sb的标样进行曝光；在光室内，调节参数后，绘制不同浓度的标准曲线并选出一组最优的标准曲线，将该标准曲线的参数设定到电感耦合等离子体光谱仪中；将进样针插入到待测液中，用ICP‑AES对待测液进行测量，根据测量结果进行计算，得出硅青铜中杂质元素As、Sb的含量。本发明可获得用ICP‑AES准确测量硅青铜中杂质元素As、Sb含量的方法。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 黑龙江;23 |
| 申请人： | 中国航发哈尔滨轴承有限公司 |
| 发明人： | 杨晶;赵强;杜姣婧;王世宇;李博瀚;冯旭 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-09-24T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-11-29T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910909326.9 |
| 公开号： | CN110514645A |
| 代理机构： | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 |
| 代理人： | 岳泉清 |
| 分类号： | G01N21/73(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 150025 黑龙江省哈尔滨市利民开发区南京路2号 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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