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原文传递 一种基于白光干涉测量表面形貌的双轴残余应力引入装置
专利名称: 一种基于白光干涉测量表面形貌的双轴残余应力引入装置
摘要: 本发明公开了一种基于白光干涉测量表面形貌的双轴残余应力引入装置,包括:上夹具和下夹具,所述上夹具和下夹具均为十字形结构,所述上夹具与下夹具为可拆卸连接,所述下夹具的表面中间开设有十字形凹槽,所述十字形凹槽内对称分布有多个试件定位柱,多个所述试件定位柱的顶端放置有试件,所述试件定位柱的顶端表面与试件的底端表面相接触;本发明提供的残余应力引入装置可以施加任意二向的拉应力和压应力,操作简单,残余应力施加数值大小可人为控制,且施加残余应力不必对试件造成破坏。利用该装置施加残余应力并进行压痕压入后,可在保持残余应力不卸载的前提下利用白光干涉仪器进行表面形貌观察。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 江苏;32
申请人: 江苏大学
发明人: 朱建国;钱文杰;张慧颖;李建
专利状态: 有效
申请日期: 2019-08-29T00:00:00+0800
发布日期: 2019-12-03T00:00:00+0800
申请号: CN201910805036.X
公开号: CN110530718A
代理机构: 上海思牛达专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人: 雍常明
分类号: G01N3/08(2006.01);G;G01;G01N;G01N3
申请人地址: 212013 江苏省镇江市学府路301号
所属类别: 发明专利
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