详情

原文传递粒子测量装置和粒子测量方法

专利名称：	粒子测量装置和粒子测量方法
摘要：	本发明提供能高精度地测量粒径的粒子测量装置和粒子测量方法。流动池(1)包括试样流体的流道(1a)。照射光学系统(3)用来自光源(2)的光照射流道(1a)内的试样流体。拍摄部(4)从流道(1a)的延长方向拍摄来自所述光通过的流道(1a)内的检测区域中的粒子的散射光。粒径确定部(23)根据由拍摄部(4)以规定的帧率拍摄到的粒子的多个静止图像，确定由布朗运动引起的粒子的二维方向的移动量，并根据二维方向的移动量确定粒子的粒径。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	日本;JP
申请人：	理音株式会社
发明人：	近藤郁;田渕拓哉;坂东和奈;加藤晴久;松浦有祐
专利状态：	有效
申请日期：	2018-03-30T00:00:00+0800
发布日期：	2019-12-13T00:00:00+0800
申请号：	CN201880025094.4
公开号：	CN110573855A
代理机构：	北京信慧永光知识产权代理有限责任公司
代理人：	崔迎宾;李雪春
分类号：	G01N15/02(2006.01);G;G01;G01N;G01N15
申请人地址：	日本东京都
所属类别：	发明专利