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一种高精度宽尺寸粒子场测量方法
| 专利名称： | 一种高精度宽尺寸粒子场测量方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种高精度宽尺寸粒子场测量方法，该方法是基于双/多角度不同偏振态的IPI系统，同时记录粒子散射光产生的离焦条纹图，提取不同散射角区域所采集的条纹图的条纹数或条纹频率，计算得到粒子尺寸大小，可测的粒子尺寸范围，即为该双/多路系统可测的最小粒径和最大粒径区间。本发明的这种非接触测量方法具有原理简单、测量精度高、实用性强等特点，可用于喷雾粒子场、气溶胶粒子场测量。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 天津;12 |
| 申请人： | 天津大学 |
| 发明人： | 吕且妮;徐捷;尉小雪 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810773772.7 |
| 公开号： | CN109060612A |
| 代理机构： | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 |
| 代理人： | 李林娟 |
| 分类号： | G01N15/02(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N15;G01N15/02 |
| 申请人地址： | 300072 天津市南开区卫津路92号 |
| 主权项： | 1.一种高精度宽尺寸粒子场测量方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：1)片状光束照射粒子场，粒子发生散射，由成像透镜、探测器CCD组成的成像系统接收粒子的散射光，这一成像系统称为IPI系统；2)在两或多个散射角区域，搭建IPI成像系统，同时记录粒子的离焦条纹图；3)对上述两路或多路系统采集到的粒子离焦条纹图，提取条纹数N或条纹频率F，由如下公式计算得到粒子直径d： |
| 所属类别： | 发明专利 |
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