原文传递
一种粒子尺寸和折射率同时测量方法
| 专利名称： | 一种粒子尺寸和折射率同时测量方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种粒子尺寸和折射率同时测量方法；该方法采用两强度相等的片状光束相向照射粒子，分别在90°散射角区域和侧向散射角区域，同时记录粒子散射光所形成的聚焦像或/和干涉条纹图。其中，在90°散射角区域，记录两相向光束经粒子表面的p＝0阶反射光所形成的聚焦像或干涉条纹图，在侧向散射角区域，记录任一单光束经粒子后产生的p＝0阶反射光和p＝1阶折射光所形成的聚焦像或干涉条纹图。提取90°散射角区域和侧向散射角区域所采集的聚焦两点像间距或/和条纹图的条纹数，结合计算得到粒子尺寸大小d和折射率n。本发明这种非接触测量方法具有原理简单、测量精度高、实用性强等特点，可用于喷雾粒子场、气溶胶粒子尺寸和折射率同时测量。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 天津;12 |
| 申请人： | 天津大学 |
| 发明人： | 吕且妮;尉小雪;葛宝臻;张晗笑 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810085747.X |
| 公开号： | CN108562522A |
| 代理机构： | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 |
| 代理人： | 李素兰 |
| 分类号： | G01N15/02(2006.01)I;G01N21/41(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N15;G01N21;G01N15/02;G01N21/41 |
| 申请人地址： | 300072 天津市南开区卫津路92号 |
| 主权项： | 1.一种粒子尺寸和折射率同时测量方法，其特征在于，该方法具体测量过程包括以下步骤：步骤一、激光器发出的光束经扩束准直系统、光束压缩系统后为片状光束；片状光束经分束镜分成强度相等的两束光，相向照射球形透明粒子，粒子发生散射；每束光经粒子后分别产生p＝0阶反射光和p＝1阶折射光，其中p＝0阶光为经粒子表面的反射光，p＝1阶光为经粒子内一次折射的折射光；由成像透镜、探测器CCD组成的成像系统接收粒子的散射光；在90°散射角区域，记录两相向光束的p＝0阶反射光，在聚焦像面上形成两点像，在离焦像面上形成干涉条纹图，这一光路系统称为粒径测量光路系统；在侧向散射角区域，记录任一单光束经粒子后产生的p＝0阶反射光和p＝1阶折射光，在聚焦像面上形成两点像，在离焦像面上形成干涉条纹图，这一光路系统称为折射率测量光路系统；步骤二、提取粒径测量光路系统所采集的聚焦两点像间距Δl或条纹图的条纹数N，计算得到粒子直径d；对条纹图，由 |
| 所属类别： | 发明专利 |
检索历史
应用推荐
