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IC测试系统的自动输送装置和测盘定位机构及其输送方法
| 专利名称： | IC测试系统的自动输送装置和测盘定位机构及其输送方法 |
| 摘要： | 一种可以减少待测IC器件传送时间的IC测试系统中自动输送装置，该装置将IC器件由供应区传送至测试头区，再送至排出区。通过制动器的独特设置及于测盘上开凹槽的方法，在不提高输送速度的情况下，可减少IC器件的平均换位时间。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 申请人： | 株式会社爱德万测试 |
| 发明人： | 中村浩人; 小林义仁; 佐川慎 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 1995-08-14T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN95115349.8 |
| 公开号： | CN1143190 |
| 代理机构： | 柳沈知识产权律师事务所 |
| 代理人： | 马莹 |
| 分类号： | G01R31/28 |
| 申请人地址： | 日本东京 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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