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IC测试处理机的IC输送程序及其装置
| 专利名称： | IC测试处理机的IC输送程序及其装置 |
| 摘要： | 本发明是一种IC测试处理机的IC输送程序及其装置，尤指一种在集成电路晶片测试区前端及后端具备数个缓冲区的集成电路输送程序，主要是由空盘调度区、入料区、主缓冲区、测试区、完测配送区所组成，利用主缓冲区及数个设置在测试区及完测配送区内的各缓冲区、有效地在主缓冲区及完测配送区间递送集成电路晶片承置盘的时间差来持续令测试区作测试晶片的动作，能作最高效率的生产效率运用。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 申请人： | 达司克科技股份有限公司 |
| 发明人： | 蔡译庆 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2001-02-23T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN01104314.8 |
| 公开号： | CN1371122 |
| 代理机构： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 |
| 代理人： | 程伟 |
| 分类号： | H01L21/66 |
| 申请人地址： | 中国台湾 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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