详情

原文传递一种屏缺陷检测方法和系统

专利名称：	一种屏缺陷检测方法和系统
摘要：	本发明涉及一种屏缺陷检测方法和系统。所述屏缺陷检测方法，包括：采用设置在屏前不同角度的第一成像装置和第二成像装置对屏进行连续成像获取第一视图和第二视图；根据所述第一视图和第二视图获取缺陷点，并根据所述第一视图中所述缺陷点到预设参考点的第一距离和所述第二视图中同一所述缺陷点到所述预设参考点的第二距离的比较判断该缺陷点在所述屏的层位置。通过采用上述方法，可以判定缺陷所在层位置,从而对缺陷进行区分处理。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	湖北;42
申请人：	武汉精立电子技术有限公司
发明人：	洪志坤;张胜森;欧昌东;郑增强
专利状态：	有效
申请日期：	2019-08-26T00:00:00+0800
发布日期：	2019-12-20T00:00:00+0800
申请号：	CN201910791596.4
公开号：	CN110596139A
代理机构：	武汉东喻专利代理事务所(普通合伙)
代理人：	雷霄
分类号：	G01N21/95(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	430205 湖北省武汉市东湖新技术开发区流芳园南路22号
所属类别：	发明专利