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原文传递自动曝光检测方法、图像传感器的探测方法及系统

专利名称：	自动曝光检测方法、图像传感器的探测方法及系统
摘要：	本发明提供一种自动曝光检测方法、图像传感器的探测方法及系统，包括：空闲时，信号读出控制开关处于截止工作区；等待曝光时，处于低漏电区；曝光开始，当任意一行信号读出控制开关的总漏电流超出预设值时，曝光触发信号起效，各信号读出控制开关设置为截止工作状态，直至曝光结束；信号读出时，各信号读出控制开关逐行处于导通工作区。探测系统包括：图像传感器阵列；提供偏置电压的偏压模块；读取各检测单元中电流的读出模块；调整各信号读出控制开关的栅源电压的驱动模块。本发明将待曝光的信号读出控制开关设定为低漏电区，通过漏电流的变化起效曝光触发信号，而后快速恢复到截止工作状态，以此避免光电二极管的信号损失，提高检测精度。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	上海;31
申请人：	上海奕瑞光电子科技股份有限公司
发明人：	黄翌敏
专利状态：	有效
申请日期：	2018-12-10T00:00:00+0800
发布日期：	2019-04-26T00:00:00+0800
申请号：	CN201811504077.7
公开号：	CN109682840A
代理机构：	上海光华专利事务所(普通合伙)
代理人：	余明伟
分类号：	G01N23/04(2018.01);G;G01;G01N;G01N23
申请人地址：	201201 上海市浦东新区瑞庆路590号9幢2层202室
主权项：	1.一种自动曝光检测方法，其特征在于，所述自动曝光检测方法至少包括：等待曝光时，图像传感器阵列中的信号读出控制开关工作于低漏电区；曝光开始，流经所述图像传感器阵列中信号读出控制开关的漏电流发生变化；当其中任意一行信号读出控制开关对应的总漏电流超出预设值时，曝光触发信号起效，所述图像传感器阵列中各信号读出控制开关均设置为截止工作状态，直至曝光结束。 2.根据权利要求1所述的自动曝光检测方法，其特征在于：通过调整所述信号读出控制开关的栅源电压来调整所述信号读出控制开关的工作状态。 3.根据权利要求1所述的自动曝光检测方法，其特征在于：所述低漏电区的漏电流介于截止工作区对应的最大漏电流的1～100倍之间。 4.根据权利要求1～3任意一项所述的自动曝光检测方法，其特征在于：所述信号读出控制开关为薄膜晶体管。 5.一种图像传感器的探测方法，其特征在于，所述图像传感器的探测方法至少包括：空闲时，所述图像传感器中的信号读出控制开关处于截止工作区；等待曝光及曝光时，所述图像传感器采用如权利要求1～4任意一项所述的自动曝光检测方法实现曝光检测并完成曝光；在信号读出时，各信号读出控制开关逐行处于导通工作区，以逐行读出信号，完成图像采集。 6.根据权利要求5所述的图像传感器的探测系统，其特征在于：所述信号读出控制开关位于截止工作区、低漏电区及导通工作区的栅源电压依次增大。 7.一种图像传感器的探测系统，其特征在于，所述图像传感器的探测系统至少包括：图像传感器阵列，由多个检测单元排列形成；偏压模块，连接各检测单元，为各检测单元提供偏置电压；读出模块，连接各检测单元的输出端，用于读取各检测单元中的电流；驱动模块，连接各检测单元中信号读出控制开关的栅极及所述读出模块的输出端，根据不同工作过程调整各信号读出控制开关的栅源电压，进而控制各检测单元的工作状态。 8.根据权利要求7所述的图像传感器的探测系统，其特征在于：所述驱动模块包括时序电路及栅极控制电路；所述时序电路用于产生逐行控制各信号读出控制开关的时序信号；所述栅极控制电路连接所述时序电路，基于所述时序信号为各行信号读出控制开关提供栅极电压，进而实现工作状态的控制。 9.根据权利要求7所述的图像传感器的探测系统，其特征在于：所述检测单元包括信号读出控制开关及光电二极管；所述信号读出控制开关的一端连接所述读出模块，另一端连接所述光电二极管的阴极，栅极连接所述驱动模块；所述光电二极管的阳极连接所述偏压模块。 10.根据权利要求7～9任意一项所述的图像传感器的探测系统，其特征在于：所述信号读出控制开关为薄膜晶体管。
所属类别：	发明专利