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一种基于近红外光谱及化学计量学的二元掺伪当归定量分析方法
| 专利名称： | 一种基于近红外光谱及化学计量学的二元掺伪当归定量分析方法 |
| 摘要： | 本发明涉及一种基于近红外光谱及化学计量学的二元掺伪当归定量分析方法。具体步骤为先购买当归及相似品若干，配制一定数目的当归掺伪样品；采集掺伪样品的近红外漫反射光谱；采用KS分组方式，将数据集划分为训练集和预测集；确定偏最小二乘回归模型的因子数；再次，考察SG平滑法、多元散射校正、标准正态变量、一阶导数、二阶导数、连续小波变换及其组合的预处理效果，得到最佳预处理方法；最后，采用最佳预处理‑PLSR建模方法对二元掺伪当归定量分析。本发明基于近红外光谱及化学计量学，快速简便，无损样品。本发明适用于二元掺伪当归的定量分析。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 天津;12 |
| 申请人： | 天津工业大学 |
| 发明人： | 卞希慧;张萌;朱柏睿 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-03-26T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-05-17T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910236423.6 |
| 公开号： | CN109765200A |
| 分类号： | G01N21/359(2014.01);G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 300387 天津市西青区宾水西道399号 |
| 主权项： | 1.一种基于近红外光谱及化学计量学的二元掺伪当归定量分析方法，其特征在于：先购买当归及相似品若干，配制一定数目的当归掺伪样品；采集掺伪样品的近红外漫反射光谱；采用KS分组方式，将数据集划分为训练集和预测集；确定偏最小二乘回归模型的因子数；再次，考察不同预处理方法的预处理效果，得到最佳预处理方法；最后，采用最佳预处理-PLSR建模方法对二元掺伪当归定量分析。 2.根据权利要求1所述的一种基于近红外光谱及化学计量学的二元掺伪当归定量分析方法，其特征在于：所述不同预处理方法包括SG平滑法、多元散射校正、标准正态变量、一阶导数、二阶导数和连续小波变换和它们的组合。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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