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原文传递一种表面缺陷检测方法

专利名称：	一种表面缺陷检测方法
摘要：	本发明涉及一种表面缺陷检测方法，包括：S1、利用视觉系统采集图片，提取图片的检测区域；S2、将所述图片的检测区域分割成n2个单元，计算每个单元的标准差；S3、将每个所述单元的标准差与设定阈值范围进行比较，判断所述单元是否为缺陷单元找出所述检测区域中所有所述缺陷单元。本发明的表面缺陷检测方法效率高，不需要滤波工序，缺陷检测精度高，有效避免漏检的情况。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	河南;41
申请人：	信阳舜宇光学有限公司
发明人：	宋巨龙;陈琦峰
专利状态：	有效
申请日期：	2019-02-01T00:00:00+0800
发布日期：	2019-05-24T00:00:00+0800
申请号：	CN201910104763.3
公开号：	CN109799240A
代理机构：	北京谨诚君睿知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人：	陆鑫;延慧
分类号：	G01N21/88(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	464000 河南省信阳市平桥工业园新科大道88号
主权项：	1.一种表面缺陷检测方法，包括： S1、利用视觉系统采集图片，提取图片的检测区域； S2、将所述图片的检测区域分割成n2个单元，计算每个单元的标准差； S3、将每个所述单元的标准差与设定阈值范围进行比较，判断所述单元是否为缺陷单元，找出所述检测区域中所有所述缺陷单元。 2.根据权利要求1所述的表面缺陷检测方法，其特征在于，还包括： S4、整合所述步骤S3中连续相连所述缺陷单元形成缺陷区域，统计所述缺陷区域中缺陷单元的数量并与预设阈值比较，判断所述缺陷区域是否为噪点。 3.根据权利要求1或2所述的表面缺陷检测方法，其特征在于，在所述步骤S1之后且在步骤S2之前，对所述检测区域进行边缘裁剪。 4.根据权利要求3所述的表面缺陷检测方法，其特征在于，对所述检测区域进行边缘裁剪时，对所述检测区域四边等宽度范围地裁剪。 5.根据权利要求4所述的表面缺陷检测方法，其特征在于，裁剪范围为5至10个像素。 6.根据权利要求1或2所述的表面缺陷检测方法，其特征在于，在所述步骤S2中，利用公式计算每个所述单元的标准差；其中σ为亮度标准差，xi为第i单元的亮度参数值，μ为所有亮度参数值的算数平均值，N为大于1的整数。 7.根据权利要求1或2所述的表面缺陷检测方法，其特征在于，在所述步骤S3中，若所述单元的标准差落入所述设定阈值范围内，则所述单元为缺陷单元。 8.根据权利要求1或2所述的表面缺陷检测方法，其特征在于，在所述步骤S4中，若所述缺陷区域中缺陷单元的数量小于所述预设阈值，则所述缺陷区域为噪点；若所述缺陷区域中缺陷单元的数量大于或等于所述预设阈值，则所述缺陷区域为缺陷。 9.根据权利要求1或2所述的表面缺陷检测方法，其特征在于，所述视觉系统包括采集相机。 10.根据权利要求9所述的表面缺陷检测方法，其特征在于，在所述步骤S1之前，依据预设亮度标准值设置所述采集相机的参数，确保所述采集相机拍摄的图片能够显示出缺陷。
所属类别：	发明专利