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原文传递适用于表面缺陷检测方法

专利名称：	适用于表面缺陷检测方法
摘要：	本发明涉及一种适用于表面缺陷检测方法，包括有检测区域，其包括以下步骤：在检测区域内放置有待检测物体，在检测区域的上端内设置有能进行图样投影的投影装置，通过控制器开启照明装置；通过控制器开启取景装置，对物体表面进行照明环境下的影像取样；通过控制器关闭照明装置；通过控制器开启取景装置，对物体表面进行非照明环境下的影像取样；通过处理设备获取影像取样的数据进行分析处理，并输出结果。由此，可以通过控制器与处理设备的相互配合，实现自动化处理。检测精度高，不会出现人工误判的疏漏。能够采用较多的市售产品参与搭建、配置，易于实施。
专利类型：	发明专利
申请人：	苏州伟信奥图智能科技有限公司
发明人：	刘宁;程文涛;钟才明;符强;周丽娟;米鹏飞
专利状态：	有效
申请日期：	1900-01-20T00:00:00+0805
发布日期：	1900-01-20T17:00:00+0805
申请号：	CN201911367103.0
公开号：	CN111024712A
代理机构：	北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：	刘洪勋
分类号：	G01N21/88;G01N21/01;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/88;G01N21/01
申请人地址：	215000 江苏省苏州市高新区浒墅关镇城际路21号2幢501室-1015
主权项：	1.适用于表面缺陷检测方法，包括有检测区域，其特征在于包括以下步骤：在检测区域内放置有待检测物体，在检测区域的上端内设置有能进行图样投影的投影装置，步骤一，通过控制器开启照明装置；步骤二，通过控制器开启取景装置，对物体表面进行照明环境下的影像取样；步骤三，通过控制器关闭照明装置；步骤四，通过控制器开启取景装置，对物体表面进行非照明环境下的影像取样；步骤五，通过处理设备获取影像取样的数据进行分析处理，并输出结果。 2.根据权利要求1所述的适用于表面缺陷检测方法，其特征在于：所述投影装置为投影屏幕，投影的内容包括栅格图形、点阵图形、斜线图形、交错线图形中的一种或是多种。 3.根据权利要求1所述的适用于表面缺陷检测方法，其特征在于：所述照明装置为设置在检测区域的一侧；或是，呈镜像分布在检测区域的两侧。 4.根据权利要求1所述的适用于表面缺陷检测方法，其特征在于：所述照明装置为LED灯，所述LED灯上设置有照射角度调节脚。 5.根据权利要求4所述的适用于表面缺陷检测方法，其特征在于：所述LED灯的辐照角度与待检测物体的水平面的夹角小于等于10度。 6.根据权利要求1所述的适用于表面缺陷检测方法，其特征在于：所述取景装置为CCD相机。 7.根据权利要求1所述的适用于表面缺陷检测方法，其特征在于：所述处理设备包括有计算机，所述计算机配置有微处理器，对影像取样的数据进行3D建模后，比对投影装置的输出图像，查找差异点。 8.根据权利要求1所述的适用于表面缺陷检测方法，其特征在于：所述步骤五中，处理设备将投影装置的输出图像分别和开启照明装置后获取的影像取样、关闭照明装置后获取的影像取样进行比较，查找不同处，所述不同处即为表面缺陷。
所属类别：	发明专利