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利用可见光-近红外反射光谱快速分析岩石风化壳稀土含量的方法
| 专利名称： | 利用可见光-近红外反射光谱快速分析岩石风化壳稀土含量的方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种利用可见光‑近红外反射光谱对岩石风化壳中的稀土含量进行测试以及分析数据的方法，利用手持式可见光‑近红外反射光谱仪对岩石风化壳的露头、表层土壤以及钻孔样品中的稀土含量进行测试，并通过特定的样品前处理和数据处理手段，消除样品中水、有机物、铁氧化物等成分对稀土含量测试的准确性造成的干扰，提高岩石风化壳中稀土含量测试的准确性和灵敏性，满足风化壳离子吸附型稀土矿床找矿勘查工作对样品进行快速分析的需求。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 广东;44 |
| 申请人： | 中国科学院广州地球化学研究所 |
| 发明人： | 谭伟;刘嘉成;何宏平;秦效荣;梁晓亮;马灵涯;黄健;黄玉凤 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-01-29T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-05-28T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910083918.X |
| 公开号： | CN109813665A |
| 代理机构： | 广州科粤专利商标代理有限公司 |
| 代理人： | 蒋欢妹;刘明星 |
| 分类号： | G01N21/31(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 510640 广东省广州市天河区科华街511号 |
| 主权项： | 1.一种利用可见光-近红外反射光谱对岩石风化壳中的稀土含量进行测试以及分析的方法，其特征在于，该方法包括以下步骤： a、将表面干洁岩石风化壳样品放进深度大于0.5cm、直径大于1.5cm的器皿中，利用玻璃片将表面压平； b、利用可见光-近红外反射光谱仪对器皿中的样品进行反射光谱测量，光谱范围设定为350-1000nm，利用标准反射面板来校正仪器；从不同方向进行多次测量，记录原始光谱数据； c、将样品多次测量的原始光谱数据进行加权平均作为该样品的光谱数据，绘制样品光谱曲线； d、对样品光谱曲线进行平滑和连续统去除处理得到处理后的样品光谱曲线； e、对步骤d得到的处理后的样品的光谱曲线743nm波长吸收强度进行二阶求导处理，得出其二阶导值； f、将步骤e得到的二阶导值作为x值代入下式得到岩石风化壳中的稀土含量y； y＝58500x3+7200x2+2260x+520。 2.根据权利要求1所述利用可见光-近红外反射光谱对岩石风化壳中的稀土含量进行测试以及分析的方法，其特征在于，步骤b中，所述从不同方向进行多次测量，对于粉末样品从间隔90°的不同方向测量2次，对于岩石块样则从间隔30°的不同方向测量6次。 3.根据权利要求1或2所述利用可见光-近红外反射光谱对岩石风化壳中的稀土含量进行测试以及分析的方法，其特征在于，步骤c利用ViewSpecpro软件进行。 4.根据权利要求1或2所述利用可见光-近红外反射光谱对岩石风化壳中的稀土含量进行测试以及分析的方法，其特征在于，步骤d利用SpecWin软件进行。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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