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原文传递用于显示装置外围线路区匹配缺陷点与线路编号的方法

专利名称：	用于显示装置外围线路区匹配缺陷点与线路编号的方法
摘要：	一种用于显示装置外围线路区匹配一缺陷点与一线路编号的方法，所述方法包含：根据一物件上的一线路配置，形成多个检测区块；通过AOI检测技术检测所述物件，并且输出一检测结果，其中所检测结果包含所述缺陷点的一座标位置；确定所述缺陷点所对应的所述检测区块；及通过一平行线法计算所述缺陷点所对应的所述线路编号。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	广东;44
申请人：	深圳市华星光电半导体显示技术有限公司
发明人：	叶新荣
专利状态：	有效
申请日期：	2019-01-25T00:00:00+0800
发布日期：	2019-06-11T00:00:00+0800
申请号：	CN201910070897.8
公开号：	CN109870466A
代理机构：	深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙)
代理人：	黄威
分类号：	G01N21/95(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	518132 广东省深圳市光明新区公明街道塘明大道9-2号
主权项：	1.一种用于显示装置外围线路区匹配一缺陷点与一线路编号的方法，其特征在于，所述方法包含：根据一物件上的一线路配置，形成多个检测区块；通过自动光学检测(AOI)检测所述物件，并且输出一检测结果，其中所检测结果包含所述缺陷点的一座标位置；确定所述缺陷点所对应的所述检测区块；及通过一平行线法计算所述缺陷点所对应的所述线路编号。 2.如权利要求1所述的方法，其特征在于：根据一物件上的一线路配置，形成多个检测区块，包括：定义所述多个检测区块中的至少一个为一关键区块，所述关键区块呈三角形；及定义所述关键区块的一第一顶点、一第二顶点及一第三顶点各自的一座标位置。 3.如权利要求2所述的方法，其特征在于：确定所述缺陷点所对应的所述检测区块，包括：利用向量面积法获得所述关键区块的面积；利用向量面积法获得所述缺陷点、所述第一顶点及所述第二顶点所构成的一第一面积；利用向量面积法获得所述缺陷点、所述第二顶点及所述第三顶点所构成的一第二面积；利用向量面积法获得所述缺陷点、所述第三顶点及所述第一顶点所构成的一第三面积；当所述第一面积、所述第二面积及所述第三面积等于所述关键区块的面积时，确定所述缺陷点位于所述关键区块内；及当所述第一面积、所述第二面积及所述第三面积大于所述选定区块的面积时，确定所述缺陷点位于所述关键区块外。 4.如权利要求3所述的方法，其特征在于：所述关键区块还包括一底边、一第一腰边、一第二腰边及N个编号线路，所述N个编号线路平行于所述第一腰边，所述N个编号线路分别地与所述底边及所述第二腰边交会，并且通过所述平行线法计算所述缺陷点所对应的所述线路编号包括：当所述缺陷点位于所述关键区块内，所述缺陷点所在的一第n线路与所述底边交会将所述底边分为一第一区段及一第二区段，通过所述第一区段与所述第二区段的长度比等于所述第n线路到第0线路与第N线路到第n线路的长度比，进而计算出所述第n线路的n值。 5.如权利要求3所述的方法，其特征在于：所述关键区块还包括一底边、一第一腰边、一第二腰边及N个编号线路，所述N个编号线路平行于所述第一腰边，所述N个编号线路分别地与所述底边及所述第二腰边交会，并且通过所述平行线法计算所述缺陷点所对应的所述线路编号包括：当所述缺陷点位于所述关键区块内，所述缺陷点所在的一第n线路与所述底边交会将所述底边分为一第三区段及一第四区段，通过所述第三区段与所述第四区段的长度比等于所述第n线路到第0线路与第N线路到第n线路的长度比，进而计算出所述第n线路的n值。 6.如权利要求2所述的方法，其特征在于：根据所述线路配置来定义所述第一顶点、所述第二顶点及所述第三顶点各自的所述座标位置。 7.如权利要求2所述的方法，其特征在于：所述座标位置包括一X轴位置及一Y轴位置。 8.一种用于显示装置外围线路区匹配一缺陷点与一线路编号的方法，其特征在于，所述方法包含：根据一物件上的一线路配置，形成呈三角形的一关键区块；定义所述关键区块的一第一顶点、一第二顶点及一第三顶点各自的一座标位置；通过自动光学检测(AOI)检测所述物件的N个编号线路，并且输出一检测结果，其中所检测结果包含所述缺陷点的一座标位置；确定所述缺陷点是否位于所述关键区块内；及当所述缺陷点位于所述关键区块内时，通过平行线法计算所述缺陷点所对应的一第n线路的n值。 9.如权利要求9所述的方法，其特征在于：确定所述缺陷点是否位于所述关键区块内，包括：利用向量面积法获得所述关键区块的面积；利用向量面积法获得所述缺陷点、所述第一顶点及所述第二顶点所构成的一第一面积；利用向量面积法获得所述缺陷点、所述第二顶点及所述第三顶点所构成的一第二面积；利用向量面积法获得所述缺陷点、所述第三顶点及所述第一顶点所构成的一第三面积；当所述第一面积、所述第二面积及所述第三面积等于所述关键区块的面积时，确定所述缺陷点位于所述关键区块内；及当所述第一面积、所述第二面积及所述第三面积大于所述选定区块的面积时，确定所述缺陷点位于所述关键区块外。 10.如权利要求9所述的方法，其特征在于：所述关键区块还包括一底边、一第一腰边、一第二腰边，所述N个编号线路平行于所述第一腰边，所述N个编号线路分别地与所述底边及所述第二腰边交会，并且通过平行线法计算所述缺陷点所对应的所述第n线路的n值包括：所述缺陷点所在的所述第n线路与所述底边交会将所述底边分为一第一区段及一第二区段，通过所述第一区段与所述第二区段的长度比等于所述第n线路到第0线路与第N线路到第n线路的长度比，进而计算出所述第n线路的n值。
所属类别：	发明专利