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原文传递用于带电粒子显微镜等冷冻样品的改良型制备

专利名称：	用于带电粒子显微镜等冷冻样品的改良型制备
摘要：	本发明提供一种制备（例如用于在带电粒子显微镜中进行研究的）冷冻样品的方法，由此使用冷冻剂对所述样品进行快速冷却，所述方法包括以下步骤：提供两个用于输送冷冻流体的导管，所述导管中的每个导管通向管接口中，所述管接口布置成隔着中间间隙彼此相对；将样品放入所述间隙中；通过所述导管泵送冷冻流体，以便同时从所述管接口冲排，从而从相对两侧将样品突然浸没在冷冻流体中，其中从所述管接口中的第一管接口施加的冷冻流体的冲排不同于从所述管接口中的第二管接口施加的冷冻流体的冲排，例如，二者的持续时间不同。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	美国;US
申请人：	FEI 公司
发明人：	H-W.瑞米基
专利状态：	有效
申请日期：	2018-12-07T00:00:00+0800
发布日期：	2019-06-18T00:00:00+0800
申请号：	CN201811494530.0
公开号：	CN109900729A
代理机构：	中国专利代理(香港)有限公司
代理人：	佘鹏;傅永霄
分类号：	G01N23/2202(2018.01);G;G01;G01N;G01N23
申请人地址：	美国俄勒冈州
主权项：	1.一种制备冷冻样品的方法，由此使用冷冻剂对所述样品进行快速冷却，所述方法包括以下步骤：提供两个用于输送冷冻流体的导管，所述导管中的每个导管通向管接口中，所述管接口布置成隔着中间间隙彼此相对；将所述样品放入所述间隙中；通过所述导管泵送冷冻流体，以便同时从所述管接口冲排，从而从相对两侧将所述样品突然浸没在所述冷冻流体中，其特征在于，在给定的时间间隔之后减少从所述管接口中的第一管接口施加的冷冻流体的冲排，使得来自所述管接口中的所述第一管接口的所述冷冻流体的冲排不同于从所述管接口中的第二管接口施加的冷冻流体的冲排。 2.根据权利要求1所述的方法，其中与从所述第二管接口施加的冷冻流体的冲排的持续时间相比，从所述第一管接口施加的冷冻流体的冲排的持续时间更短。 3.根据权利要求1或2所述的方法，其中来自两个管接口的冲排基本上同时开始。 4.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中来自所述第一管接口的冲排在所述给定时间间隔之后终止。 5.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中使用挡板来减少从所述管接口中的所述第一管接口施加的冷冻流体的冲排。 6.根据权利要求1至5中任一项所述的方法，其中：所述导管布置在柱塞中，由此每个导管在所述柱塞的下侧上具有入口孔，并且所述间隙在所述柱塞的顶侧设置成凹槽；冷冻流体浴槽设置在所述柱塞下方；使用工具将所述样品插入所述凹槽中，所述工具在所述柱塞上施加向下的压力，从而使所述柱塞至少部分地浸入，并使所述浴槽中的冷冻流体流入所述入口孔并通过所述管接口排出。 7.根据权利要求5和6所述的方法，其中当所述柱塞浸入所述浴槽中时，连接到所述第一导管的所述孔中的第一孔与设置在所述浴槽表面下方选定距离处的盖子接合，所述盖子然后与所述柱塞共同移动，以使所述第一孔保持关闭。 8.根据权利要求1至7中任一项所述的方法，其中：所述样品基本上是平面的，具有相对定位的主表面；将所述样品布置在所述间隙中，使得所述主表面面向所述管接口。 9.根据权利要求8所述的方法，其中：所述样品包括带有穿孔膜的平面栅格，由此将所述膜的后侧放置在所述栅格的面上；所述样品定位在所述管接口之间，使得所述后侧面向所述第一管接口。 10.根据权利要求1至9中任一项所述的方法，其中所述冷冻流体包括温度在-160℃至-183℃范围内的液态乙烷。 11.一种用于制备冷冻样品的装置，由此使用冷冻剂对所述样品进行快速冷却，所述装置包括：一对用于输送冷冻流体的导管，所述导管中的每个导管通向管接口中，所述管接口布置成隔着中间间隙彼此相对，所述样品可以布置在所述间隙中；泵送机构，其用于通过所述导管泵送冷冻流体，以便同时从所述管接口冲排，并且从相对两侧将所述样品突然浸没在所述冷冻流体中，所述装置配置成使得可以减少从所述管接口中的第一管接口施加的冷冻流体的冲排，使得在给定的时间间隔之后从所述管接口中的第一管接口施加的冷冻流体的冲排不同于从所述管接口中的第二管接口施加的冷冻流体的冲排。 12.根据权利要求11所述的装置，其中：所述导管布置在柱塞中，由此每个导管在所述柱塞的下侧上具有入口孔，并且所述间隙在所述柱塞的顶侧设置成凹槽，所述冷冻流体可以设置在所述柱塞下方的浴槽中，所述凹槽配置成接合工具，所述工具将样品插入所述凹槽并且同时在所述柱塞上施加向下的压力，以便至少部分地将所述柱塞浸入所述浴槽，并使冷冻流体流入所述入口孔并通过所述管接口排出。 13.根据权利要求12所述的装置，其包括挡板，所述挡板布置成当所述柱塞达到所述浴槽中的给定深度时，封闭连接到所述第一管接口的所述导管中的第一导管。 14.使用根据权利要求1至9中任一项所述的方法制备的样品在带电粒子显微镜中的使用，其包括：样品架，其用于保持所述样品；冷却设备，其用于至少在所述样品在所述样品架上时将其保持在冷冻温度；源，其用于产生带电粒子束；照明器，其用于引导所述束来照射所述样品；检测器，其用于检测响应于所述照射而从所述样品散发的辐射通量。
所属类别：	发明专利