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原文传递在散射光模式及荧光模式中测量液体纳米颗粒的浓度、尺寸及Z电位装置及方法

专利名称：	在散射光模式及荧光模式中测量液体纳米颗粒的浓度、尺寸及Z电位装置及方法
摘要：	本发明涉及一种用于在散射光模式和荧光模式下测量液体中纳米颗粒的浓度、尺寸和Z电位的装置和方法，包括以下特征：a)样品(28)从上方被激光(1)通过分光器(14)和可调焦点液体透镜(9)而照射，且光的反射光束通过相同的分光器(14)和另一液体透镜(8)而被偏转至检测器(5)并被分析；b)为了观察荧光的目的，荧光滤光片(19)被连接至所述液体透镜(8)和所述检测器(5)之间的会聚光束路径中，用来增加散射光平面(31)和荧光平面(30)之间的距离；以及c)为了控制所述测量过程，使用颗粒跟踪程序、光学控制器(15)和具有触控屏幕的显示器(2)。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	德国;DE
申请人：	梅特里克斯微粒有限公司
发明人：	哈诺·法其米格;玛格丽特·布克
专利状态：	有效
申请日期：	2017-11-03T00:00:00+0800
发布日期：	2019-06-21T00:00:00+0800
申请号：	CN201780068800.9
公开号：	CN109923396A
代理机构：	北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：	宋融冰
分类号：	G01N15/02(2006.01);G;G01;G01N;G01N15
申请人地址：	德国梅尔布施
主权项：	1.一种用于在散射光模式及荧光模式中测量液体中纳米颗粒的浓度、尺寸及Z电位的装置，包括以下特征： d)来自上方的激光光束(1)经由分光器(14)、通过具有可调焦点的液体透镜(9)和光学保护玻璃(23)被导向具有含颗粒样品(28)的测量单元(27)，其中所述激光光束(1)的焦点被导向空气和样品液体之间低于相位边界(21)的点， e)被所述样品(28)和所述保护玻璃(23)反射的光部分地被所述分光器(14)偏斜并通过另一液体透镜(8)导向检测器(5)，所述另一液体透镜(8)具有可调焦点，其中荧光滤光片(10)可通过位移装置(24)被插入所述液体透镜和所述检测器(5)之间的光束路径， f)具有颗粒跟踪程序或动态光散射(DLS)程序的控制器(3)、光学控制器(15)和具有触摸屏的显示器(2)。 2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于所述液体透镜(9)用作聚焦在所述检测器(5)上的目的。 3.根据前述权利要求任意一项所述的装置，其特征在于所述样品(28)的黏度通过温度传感器(26)的帮助而确定。 4.根据前述权利要求任意一项所述的装置，其特征在于所述样品槽(27)包含用于产生电泳的多个电极(12)和用于测量所述z电位的多个电极(13)。 5.一种用于在散射光模式及荧光模式中测量液体中纳米颗粒的浓度、尺寸及Z电位的方法，包括以下特征： d)样品(28)从上方被激光(1)通过分光器(14)和液体透镜(9)而照射，所述液体透镜(9)具有可调焦点，且反射光束通过相同的分光器(14)和另一液体透镜(8)而被转向至检测器(5)并被分析， e)为了观察荧光的目的，用于增加散射光平面(31)和荧光平面(30)之间的距离的荧光滤光片(19)被插入所述液体透镜(8)和所述检测器(5)之间的会聚光束路径， f)在此，颗粒跟踪程序或外差180度DLS程序、光学控制器(15)和具有触摸屏的显示器(2)用来控制所述测量过程。 6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于所述样品(28)的黏度通过温度传感器(26)的帮助而确定。 7.根据权利要求5或6所述的方法，其特征在于所述样品槽(27)包含用于电泳的多个电极(12)和用于分接无干扰电场来准确确定所述z电位的多个电极(13)。 8.一种具有程序代码的计算器程序，当所述程序在计算器上执行时，用于实现根据权利要求5至7中任意一项所述的方法步骤。 9.一种具有计算器程序的程序代码的机器可读介质，当所述程序在计算器上执行时，用于实现根据权利要求5至7中任意一项所述的方法。
所属类别：	发明专利