专利名称: |
检测元件 |
摘要: |
一种检测元件,包括基材、纳米管阵列及多个适体。纳米管阵列形成于基材的一侧,且纳米管阵列包括多个纳米管,各纳米管相对于连接基材的一端为开放端;多个适体结合于经过表面活化处理的多个纳米管内。 |
专利类型: |
实用新型 |
国家地区组织代码: |
中国台湾;71 |
申请人: |
朱瑾 |
发明人: |
朱瑾;陈建光 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2018-10-17T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-07-23T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201821686018.1 |
公开号: |
CN209148531U |
代理机构: |
北京金信知识产权代理有限公司 |
代理人: |
佛新瑜;韩飞 |
分类号: |
G01N21/17(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: |
中国台湾台北市大安区基隆路四段43号 |
主权项: |
1.一种检测元件,其特征在于,包括: 基材; 纳米管阵列,形成于所述基材的一侧,所述纳米管阵列包括多个纳米管,各所述纳米管相对于连接所述基材的一端为开放端;以及 多个适体,结合于经过表面活化处理的多个所述纳米管内。 2.根据权利要求1所述的检测元件,其特征在于,其中各所述纳米管的管壁厚度与直径之比为1:2~1:10。 3.根据权利要求1所述的检测元件,其特征在于,其中各所述纳米管的高宽比为1:0.5~1:10。 4.根据权利要求1所述的检测元件,其特征在于,其中相邻二个所述纳米管的间距为所述纳米管的直径的0.5~6倍。 5.根据权利要求1所述的检测元件,其特征在于,其中所述纳米管阵列是由多个所述纳米管所形成的有序阵列,且各所述纳米管的直径为10nm至100μm。 |
所属类别: |
实用新型 |