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一种基于光谱技术玉米霉变的快速检测方法
| 专利名称： | 一种基于光谱技术玉米霉变的快速检测方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于光谱技术玉米霉变的快速检测方法及方法，所述方法包括以下步骤：准备霉变玉米和未霉变玉米；利用地物光谱仪分别采集霉变玉米和未霉变玉米的光谱数据，并进行特征分析；根据波段400nm、700nm对应的光谱反射率分别计算霉变玉米和未霉变玉米的玉米霉变指数；统计分析霉变玉米和完好玉米的霉变指数值的变化范围，并依据实际情况确定霉变与未霉变玉米分界值；基于所述霉变与未霉变玉米分界值，判断待测玉米是否霉变。本发明提供的基于光谱技术玉米霉变的快速检测方法，方法简单，操作方便，可实现快速、无损、实时玉米霉变的检测，为提高玉米存储质量提供基础技术支持。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 申请人： | 北华航天工业学院 |
| 发明人： | 王延仓;李会民;李旭青;杨秀峰;金永涛;耿一峰;邓钦午;李一鸣;苏晓彤 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 1900-01-20T13:00:00+0805 |
| 发布日期： | 1900-01-20T05:00:00+0805 |
| 申请号： | CN202010089521.4 |
| 公开号： | CN111103245A |
| 代理机构： | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) |
| 代理人： | 李兴林 |
| 分类号： | G01N21/25;G01N21/552;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/25;G01N21/552 |
| 申请人地址： | 065000 河北省廊坊市广阳区爱民东道133号 |
| 主权项： | 1.一种基于光谱技术玉米霉变的快速检测方法，其特征在于，包括以下步骤： S1，准备霉变玉米和未霉变玉米； S2，利用地物光谱仪分别采集霉变玉米和未霉变玉米的光谱数据，并进行特征分析； S3，根据波段400nm、700nm对应的光谱反射率分别计算霉变玉米和未霉变玉米的玉米霉变指数； S4，统计分析霉变玉米和完好玉米的霉变指数值的变化范围，并依据实际情况确定霉变与未霉变玉米分界值； S5，基于所述霉变与未霉变玉米分界值，判断待测玉米是否霉变。 2.根据权利要求1所述的基于光谱技术玉米霉变的快速检测方法，其特征在于，所述步骤S2中，根据波段400nm、700nm对应的光谱反射率分别计算霉变玉米和未霉变玉米的玉米霉变指数，具体包括： 玉米霉变指数计算公式： 式中：R400为玉米光谱400nm波段处的反射率值，R700为玉米光谱700nm波段位置的反射率值，400、700分别为波长，单位为nm。 3.根据权利要求2所述的基于光谱技术玉米霉变的快速检测方法，其特征在于，所述步骤S3中，所述霉变与未霉变玉米分界值为：玉米霉变指数0.0015，大于0.0015为未霉变玉米，小于0.0015的为霉变玉米。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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